微推力測試系統(tǒng)的機(jī)理和實(shí)驗(yàn)研究
發(fā)布時間:2017-10-28 08:22
本文關(guān)鍵詞:微推力測試系統(tǒng)的機(jī)理和實(shí)驗(yàn)研究
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【摘要】:微小衛(wèi)星由于結(jié)構(gòu)簡單,體積小的優(yōu)點(diǎn),近年來受到廣泛關(guān)注。微推進(jìn)器是微小衛(wèi)星的動力部件,其性能直接關(guān)系到微小衛(wèi)星的廣泛應(yīng)用。由于微小衛(wèi)星在軌運(yùn)行所需推力僅在微牛頓量級,因此如何對微推進(jìn)器的推力進(jìn)行測試是微推進(jìn)器設(shè)計(jì)和制造過程中的關(guān)鍵問題。而傳統(tǒng)的測試方法存在結(jié)構(gòu)復(fù)雜、標(biāo)定困難等不足之處。為滿足等離子體推進(jìn)器的性能測試要求,提出了一種基于扭擺裝置的微推力測試裝置,并對系統(tǒng)的動力學(xué)特性進(jìn)行了數(shù)值仿真:仿真結(jié)果顯示,上述測試系統(tǒng)存在抗干擾能力較差以補(bǔ)償機(jī)構(gòu)較復(fù)雜等不足之處。為有效解決上述問題,提出了一種基于邁克爾遜干涉原理的微推力測試裝置。該系統(tǒng)由干涉測量模塊,校準(zhǔn)模塊,測量電路模塊組成。對干涉光路系統(tǒng)和測量電路進(jìn)行了數(shù)值仿真,同時對光路原件的參數(shù)進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì)。最后搭建實(shí)驗(yàn)裝置,對測試系統(tǒng)進(jìn)行了初步實(shí)驗(yàn)。得到推力測試機(jī)構(gòu)的測量范圍在10~400N,分辨力為2±1州。為微小推力的測量提出了一種可行的測量方法。
【關(guān)鍵詞】:微等離子體推進(jìn)器 邁克爾遜干涉 扭擺 靜電力校準(zhǔn) 擬合曲線
【學(xué)位授予單位】:安徽工程大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類號】:V43
【目錄】:
- 摘要5-6
- ABSTRACT6-14
- 第1章 緒論14-21
- 1.1 研究背景14
- 1.2 微推進(jìn)器國內(nèi)外研究現(xiàn)狀14-16
- 1.3 微推力測試裝置國內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀16-20
- 1.4 研究內(nèi)容20-21
- 第2章 基于扭擺原理的微推力測試機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)21-33
- 2.1 扭擺推力測試機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)21-26
- 2.2 扭擺推力測試機(jī)構(gòu)瞬態(tài)響應(yīng)仿真26-29
- 2.3 扭擺推力測試裝置優(yōu)化29-33
- 第3章 基于邁克爾遜干涉系統(tǒng)的推力測試裝置設(shè)計(jì)33-57
- 3.1 基于邁克爾遜的干涉光路系統(tǒng)設(shè)計(jì)33-44
- 3.2 微推力測試系統(tǒng)校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)44-50
- 3.3 微推力測量電路設(shè)計(jì)50-57
- 第4章 微推力測試系統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)研究57-67
- 4.1 微推力測試的整體實(shí)驗(yàn)裝置設(shè)計(jì)57-62
- 4.2 實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證62-67
- 4.2.1 實(shí)際推力校準(zhǔn)62-66
- 4.2.2 實(shí)際推力測量驗(yàn)證66-67
- 第5章 總結(jié)與展望67-68
- 5.1 總結(jié)67
- 5.2 展望67-68
- 參考文獻(xiàn)68-73
- 攻讀學(xué)位期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文73-74
- 致謝74
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2 江小華,李豪杰,張河;基于微控制器的微型存儲測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)[J];儀器儀表學(xué)報;2002年06期
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5 瞿f,
本文編號:1107420
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