航天消光黑漆雙向反射分布函數(shù)的測量與應(yīng)用
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更多相關(guān)文章: 航天相機(jī) 消光黑漆 雙向反射分布函數(shù) 光學(xué)系統(tǒng) 雜散光 建模 誤差分析
【摘要】:為了了解經(jīng)過消光黑漆(Z306)噴涂處理后航天相機(jī)遮光罩表面對雜散光的散射特性,對噴涂了Z306的鋁板樣品進(jìn)行了雙向反射分布函數(shù)(BRDF)測量和建模分析。通過測量獲得了黑漆樣片在0.65μm波段的BRDF值。結(jié)合Z306黑漆測量數(shù)據(jù)的散射特征,選擇了適合粗糙黑漆表面的Microfacet-based模型,并對模型進(jìn)行了修正。使用修正的Microfacet-based模型對測量數(shù)據(jù)處理并建模,得到了樣片整個(gè)半球空間的BRDF數(shù)據(jù),彌補(bǔ)了測量數(shù)據(jù)量少和測量誤差帶來的缺陷。將黑漆的BRDF數(shù)據(jù)代入軟件,分析并進(jìn)行了光學(xué)系統(tǒng)雜散光測試驗(yàn)證。結(jié)果表明:采用修正的Microfacet-based模型處理黑漆的BRDF后,分析光學(xué)系統(tǒng)雜散光(點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù),PST)得到的結(jié)果與實(shí)際測量的雜散光(PST)的一致性很高,實(shí)測值與分析值比值的對數(shù)精度優(yōu)于0.5。得到的結(jié)果證明了BRDF建模的必要性和數(shù)據(jù)處理的準(zhǔn)確性,為光學(xué)系統(tǒng)的雜散光抑制提供了重要的保障。
【作者單位】: 中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所;中國科學(xué)院大學(xué);
【關(guān)鍵詞】: 航天相機(jī) 消光黑漆 雙向反射分布函數(shù) 光學(xué)系統(tǒng) 雜散光 建模 誤差分析
【基金】:神光Ⅲ大科學(xué)工程資助項(xiàng)目(No.091Z512B0A)
【分類號】:V445.8
【正文快照】: 2.中國科學(xué)院大學(xué),北京100049)1引言隨著航天事業(yè)的發(fā)展,人類文明逐漸向遙遠(yuǎn)的太空邁進(jìn),借助航天探測相機(jī)探索深空中弱小的未知目標(biāo)是人類了解太空的主要手段。航天探測相機(jī)在進(jìn)行弱目標(biāo)探測時(shí)很容易受到視場外其它光源(如太陽、月亮、其他星體)的影響,嚴(yán)重時(shí)目標(biāo)會(huì)被雜光淹沒
【相似文獻(xiàn)】
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,本文編號:1013056
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