標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研制需要多種高精密度、高準(zhǔn)確度方法的綜合運(yùn)用,特別是樣品粉碎加工后的均勻性和穩(wěn)定性檢驗(yàn),更特別強(qiáng)調(diào)檢測(cè)方法的高精密度測(cè)量。X射線(xiàn)熒光光譜（XRF）技術(shù)是當(dāng)今地質(zhì)材料主、次量組分精密度最高、最經(jīng)濟(jì)快速、無(wú)污染的多元素分析技術(shù),因此在地質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研制中應(yīng)用廣泛并發(fā)揮了重要作用。文章從樣品均勻性、穩(wěn)定性、多元素定值分析和標(biāo)準(zhǔn)分析方法制定方面評(píng)介了XRF在地質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研制中的應(yīng)用,也介紹了XRF在國(guó)家和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)分析方法制定中的應(yīng)用。特別介紹了XRF在進(jìn)行均勻性檢驗(yàn)實(shí)踐中的重要發(fā)現(xiàn):樣品不均勻誤差已成為現(xiàn)代地質(zhì)分析誤差的重要來(lái)源,并從地質(zhì)分析樣品粒度隨分析技術(shù)進(jìn)步而不斷減小的歷史演變提出了應(yīng)進(jìn)一步降低分析樣品（包括標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)）粒度的建議,使其與XRF、電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜（ICP-AES）和電感耦合等離子體質(zhì)譜（ICP-MS）這些當(dāng)今最重要的現(xiàn)代分析技術(shù)相適應(yīng)。此外,還評(píng)介了超細(xì)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研制與超細(xì)樣品分析方面的研究工作,簡(jiǎn)述了該項(xiàng)研究的意義和可能對(duì)整個(gè)地質(zhì)分析發(fā)展帶來(lái)的影響。美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院（NIST）在這方面的研究工作標(biāo)志著超細(xì)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研制和超細(xì)樣品分析將是地質(zhì)分析發(fā)展的... 

【文章來(lái)源】：冶金分析. 2020,40(10)北大核心

【文章頁(yè)數(shù)】：12 頁(yè)

【文章目錄】：
1 在均勻性、穩(wěn)定性檢驗(yàn)中的應(yīng)用
2 在定值分析中的應(yīng)用
3 在標(biāo)準(zhǔn)分析方法中的應(yīng)用
4 在均勻性檢驗(yàn)實(shí)踐中的重要發(fā)現(xiàn)
5 超細(xì)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研制及超細(xì)樣品分析研究
6 結(jié)語(yǔ)與討論


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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本文編號(hào)：3178415