本文選題：顆粒體系　切入點(diǎn)：加卸載　出處：《同濟(jì)大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版)》2017年07期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：以正五棱柱顆粒體系加卸載的光彈試驗為基礎(chǔ),通過條紋解析量化了特征顆粒所受接觸力,揭示了卸載過程中接觸力的演化特征.結(jié)果表明:卸載階段淺層顆粒間基本無殘留接觸力,而深層顆粒間存在顯著接觸力殘留;最后一級荷載為臨界荷載.采用離散元模擬重現(xiàn)了光彈試驗,數(shù)值模擬所得接觸力鏈、殘留接觸力及顆粒位移與光彈試驗一致,從而驗證了數(shù)值模擬的有效性.基于數(shù)值模型分析了加卸載階段顆粒體系的應(yīng)力演化,得出應(yīng)力與接觸力鏈、殘留應(yīng)力與殘留接觸力的空間分布均一致.
[Abstract]:Based on the photoelastic test of normal pentagonal prism particle system under loading and unloading, the contact force of characteristic particles is quantified by means of fringe analysis. The results show that there is no residual contact force among shallow particles during unloading, but there is significant residual contact force in deep layer particles. The final first order load is critical load. The photoelastic test is reproduced by discrete element simulation. The contact force chain obtained by numerical simulation is consistent with the photoelastic test, and the residual contact force and particle displacement are consistent with the photoelastic test. Based on the numerical model, the stress evolution of the particle system at loading and unloading stage is analyzed, and the spatial distribution of residual stress and residual contact force is consistent with that of contact force chain.
【作者單位】： 同濟(jì)大學(xué)道路與交通工程教育部重點(diǎn)實驗室;
【基金】：國家自然科學(xué)基金(41472247)
【分類號】：TU43

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本文編號：1627633