本文關(guān)鍵詞：淺談常規(guī)掃描電子顯微鏡的使用

  更多相關(guān)文章： 掃描電子顯微鏡 樣品制備 觀測(cè)條件 荷電效應(yīng)

【摘要】：對(duì)常規(guī)掃描電子顯微鏡的基本原理及其結(jié)構(gòu)、荷電效應(yīng)和像散對(duì)成像的影響和解決方法、樣品要求和制備、觀測(cè)條件的選擇進(jìn)行了較系統(tǒng)的論述。
【作者單位】： 北京印刷學(xué)院北京市印刷電子工程技術(shù)研究中心;
【關(guān)鍵詞】： 掃描電子顯微鏡 樣品制備 觀測(cè)條件 荷電效應(yīng)
【分類(lèi)號(hào)】：TN16
【正文快照】： 1前言掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是,1有較高的放大倍數(shù),30~30萬(wàn)倍之間連續(xù)可調(diào);2有很大的景深,視野大,成像富有立體感,可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu);3試

【相似文獻(xiàn)】

中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前10條

1 黃德群,王浩炳;掃描電子顯微鏡在激光研究中的應(yīng)用[J];激光;1982年12期

2 劉耀忠;用掃描電子顯微鏡研究發(fā)光晶體的微區(qū)特性[J];國(guó)外發(fā)光與電光;1978年06期

3 朱琳;;掃描電子顯微鏡及其在材料科學(xué)中的應(yīng)用[J];吉林化工學(xué)院學(xué)報(bào);2007年02期

4 劉耀忠;對(duì)半導(dǎo)體微區(qū)特性的掃描電子顯微鏡研究[J];半導(dǎo)體技術(shù);1979年03期

5 張慶軍;掃描電子顯微鏡的應(yīng)用[J];河北理工學(xué)院學(xué)報(bào);1998年03期

6 張禮杰;;關(guān)于提高高校掃描電子顯微鏡使用效率的探索[J];實(shí)驗(yàn)室科學(xué);2013年02期

7 黃冬英;S－450掃描電子顯微鏡故障兩例[J];電子顯微學(xué)報(bào);1994年06期

8 陳偉之;掃描電子顯微鏡精確度調(diào)整技術(shù)[J];沈陽(yáng)農(nóng)業(yè)大學(xué)學(xué)報(bào);1998年03期

9 陳木子;高偉建;張勇;馮善娥;;淺談掃描電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)及維護(hù)[J];分析儀器;2013年04期

10 高英;李林濤;;1000B型掃描電子顯微鏡合軸的調(diào)整[J];中國(guó)醫(yī)療設(shè)備;2011年09期

中國(guó)重要會(huì)議論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前7條

1 沈浩瀛;;掃描電子顯微鏡電感生象的實(shí)驗(yàn)研究[A];第四次全國(guó)電子顯微學(xué)會(huì)議論文摘要集[C];1986年

2 張良平;付建華;李勇波;;S—570掃描電子顯微鏡維修數(shù)例[A];第七次全國(guó)電子顯微學(xué)會(huì)議論文摘要集[C];1993年

3 肖少泉;吳百一;;JSM-35CF掃描電子顯微鏡故障維修三例[A];2005年全國(guó)電子顯微學(xué)會(huì)議論文集[C];2005年

4 唐崇丹;王林振;;DXS—3掃描電子顯微鏡電腦控制系統(tǒng)[A];第六次全國(guó)電子顯微學(xué)會(huì)議論文摘要集[C];1990年

5 黃冬英;;S-450掃描電子顯微鏡故障兩例[A];第八次全國(guó)電子顯微學(xué)會(huì)議論文摘要集（Ⅱ）[C];1994年

6 王志紅;常嗣和;包生祥;寧永功;;利用掃描電子顯微鏡對(duì)BeO電路基片進(jìn)行失效分析[A];第十二屆全國(guó)電子顯微學(xué)會(huì)議論文集[C];2002年

7 張景范;許丕方;;DX—3A型掃描電子顯微鏡故障分析[A];第六次全國(guó)電子顯微學(xué)會(huì)議論文摘要集[C];1990年

，

本文編號(hào)：991618