本文關(guān)鍵詞：Flash型FPGA單粒子瞬態(tài)脈沖分段濾除電路設(shè)計

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【摘要】：為提高FPGA在輻射環(huán)境條件下的抗單粒子脈沖(SET)的能力,設(shè)計了一種由多個延時單元和并聯(lián)邏輯保護單元(Guard Gate,GG)構(gòu)成的SET脈沖分段濾除電路.將SET脈沖處理延時減小至傳統(tǒng)方法的10.42%~49.8%,從而提高電路對SET脈沖的處理能力,同時占用的邏輯資源未有明顯增加.
【作者單位】： 北京航空航天大學宇航學院;
【關(guān)鍵詞】： 單粒子瞬態(tài)脈沖 邏輯保護單元 Flash型FPGA
【基金】：國家自然科學基金(41274190,41074130,41327802)
【分類號】：TN791
【正文快照】： 1引言隨著大規(guī)模集成電路在高強度輻射空間環(huán)境中應用的不斷增加及FPGA的廣泛應用,單粒子瞬態(tài)效應(Single Event Transient,SET)日益成為現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)在空間應用中所關(guān)注的問題.首先,集成電路器件進入深亞微米時代,FPGA的特征尺寸不斷減小,使得節(jié)點電容降低,同時內(nèi)

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本文編號：951519