本文關鍵詞：基于激光電子散斑干涉技術的電路熱變形研究

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【摘要】：在工作狀態(tài)下,由于電子元器件的發(fā)熱會導致電路板熱變形,影響整個電路系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性。針對此問題,本文提出了一種基于激光電子散斑技術的電路熱變形研究方法。在獲得電子散斑干涉條紋圖的基礎上,采用局部傅里葉變換濾波以消除圖像噪聲對條紋圖相位提取的影響。同時,為有效地提取電子散斑干涉相位,設計了一種基于方向耦合的梯度矢量場骨架線提取算法;并搭建了雙光束光學測量系統(tǒng),分析了測量原理;最后針對升溫和冷卻過程中電路變形情況進行了相關實驗研究。實驗結果表明:本文所述方法可以有效地提取電子散斑干涉條紋圖的骨架線,反映電路系統(tǒng)的熱變形情況。
【作者單位】： 黃河科技學院;
【關鍵詞】： 電路熱變形 激光電子散斑干涉 局部傅里葉變換濾波 骨架線提取
【基金】：河南省教育廳科學技術研究重點項目(14B510006) 光電信息技術及應用鄭州市重點實驗室項目(114PYFZX505)
【分類號】：TN407;TN249
【正文快照】： 激光電子散斑干涉技術[1-5]是一種基于激光和計算機圖像處理技術的可用于微小變形或位移測量的技術手段[6,7]。電子散斑干涉測量大多依靠條紋圖,而且需要提取條紋圖的骨架線,進而根據(jù)骨架線級數(shù)確定其對應點的相位數(shù)值,并利用插值,得到全部相位數(shù)值[8]。然而,受噪聲的影響,一

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本文編號：920605