本文關(guān)鍵詞：前向散射顆粒粒徑測量中的多參數(shù)正則化算法

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【摘要】：反演算法是光散射顆粒測試技術(shù)中的關(guān)鍵問題之一,以Tikhonov正則化方法為代表的單參數(shù)正則化算法被廣泛應(yīng)用于激光粒度儀顆粒粒徑分布函數(shù)(PSD)的反演計算中。該算法的缺點之一是所得到的反演解呈現(xiàn)出振蕩特征,并伴隨負值。為改善這一狀況,提出了一種多參數(shù)正則化算法。通過構(gòu)建一個由多個參數(shù)控制的帶通濾波函數(shù),分別控制正則化解的振蕩程度和解的高度,并對正則化解進行非負約束。模擬計算和實驗研究結(jié)果表明,對多參數(shù)進行優(yōu)化后能夠降低正則化算法帶來的振蕩和負值。此外,所提出的算法具有較好的多峰識別能力,可實現(xiàn)顆粒粒徑分布的有效重建。
【作者單位】： 上海理工大學理學院;
【關(guān)鍵詞】： 測量 顆粒粒徑 正則化 反演計算
【基金】：國家自然科學基金(51476104)
【分類號】：TH744.5
【正文快照】： 顆粒粒徑及其分布的反演是顆粒測試技術(shù)中的關(guān)鍵問題之一。以使用廣泛的前向散射激光粒度儀為例,獲得顆粒粒徑分布信息的根本性任務(wù)是求解第一類弗雷德霍姆積分方程[1-3],離散化后得到矩陣方程AX=b。其中,A是m×n矩陣,b為m×1測量向量,X是待解的n×1向量。由于測量誤差等因素，

本文編號：918832