本文關(guān)鍵詞：CMOS數(shù)字IC管腳電容的估算與測(cè)量

  更多相關(guān)文章： 集成電路 管腳電容 阻抗 阻抗分析儀 估算與測(cè)量

【摘要】：針對(duì)CMOS數(shù)字IC管腳電容的測(cè)試問(wèn)題,從標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定、規(guī)范規(guī)定的角度進(jìn)行了分析;利用最小阻抗通路法對(duì)管腳電容在各種偏置情況下的量值進(jìn)行了估算;并結(jié)合LCR測(cè)量?jī)x的測(cè)試原理,解釋了與CMOS數(shù)字IC端電容測(cè)試相關(guān)的疑問(wèn),得出了電容只需簡(jiǎn)單測(cè)試即可的結(jié)論。
【作者單位】： 北京微電子技術(shù)研究所;
【關(guān)鍵詞】： 集成電路 管腳電容 阻抗 阻抗分析儀 估算與測(cè)量
【分類號(hào)】：TN432.07
【正文快照】： 0引言集成電路中的電容影響時(shí)序關(guān)系和電源功率的消耗。系統(tǒng)設(shè)計(jì)時(shí)需要器件的電容值,器件設(shè)計(jì)仿真時(shí)也需要電容值。因此,幾乎所有的集成電路規(guī)范都有管腳電容數(shù)值測(cè)試的要求。根據(jù)器件的應(yīng)用范圍,需要測(cè)試的電容或測(cè)試方式可以分為多種,例如:IC管腳輸入電容(CIN)測(cè)試、管腳輸，

本文編號(hào)：876783