本文關(guān)鍵詞：印制電路板中隱埋薄膜電阻耐受ESD能力的研究

  更多相關(guān)文章： ESD 靜電放電 隱埋電阻 薄膜電阻

【摘要】：分析了常見(jiàn)的電子產(chǎn)品或設(shè)備和電子元器件的ESD靜電放電模擬測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),將二者進(jìn)行了對(duì)比,并提出了測(cè)試印制電路板中隱埋薄膜電阻的ESD靜電放電模擬測(cè)試方法。通過(guò)實(shí)驗(yàn),研究了隱埋薄膜電阻材料的方阻、電阻寬度、電阻長(zhǎng)度/寬度(長(zhǎng)寬比)、電阻形狀以及ESD靜電放電模擬測(cè)試設(shè)備對(duì)印制電路板中隱埋薄膜電阻的耐受ESD能力的影響,并通過(guò)功率分析,探討了產(chǎn)生這些影響的機(jī)制。另外,還通過(guò)對(duì)ESD靜電放電模擬測(cè)試失效樣品的分析,研究了印制電路板中隱埋薄膜電阻ESD失效機(jī)理。
【作者單位】： 上海美維科技有限公司;上海美維電子有限公司;
【關(guān)鍵詞】： ESD 靜電放電 隱埋電阻 薄膜電阻
【分類(lèi)號(hào)】：TN41
【正文快照】： 印制電路板中的隱埋薄膜電阻屬于分立無(wú)源器件。印制電路板制作完成后,在其后的貼裝、組裝以及終端電器產(chǎn)品或設(shè)備的使用中也可能經(jīng)受ESD而損壞。關(guān)于印制電路板中隱埋電阻的電阻材料制作[1]、印制電路板的制作工藝[2]以及印制電路板的長(zhǎng)期可靠性都已經(jīng)有諸多的研究[3]。但是

【相似文獻(xiàn)】

中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前10條

1 張麗;姜立娟;;高穩(wěn)定薄膜電阻技術(shù)及其應(yīng)用[J];微處理機(jī);2008年04期

2 陳善海;;制造薄膜電阻網(wǎng)絡(luò)新工藝[J];電子技術(shù);1984年11期

3 嚴(yán)琴;馮勇建;程翔;;鎳鉻薄膜電阻的制備和熱處理分析[J];傳感器世界;2007年09期

4 姚瑞楠;劉玉奎;崔偉;;鉻硅薄膜電阻的退火工藝條件研究[J];微電子學(xué);2010年01期

5 Reiner Kuehl;;提高用于高溫環(huán)境和電負(fù)載的薄膜電阻的性能[J];電子產(chǎn)品世界;2010年09期

6 ;資訊快報(bào)[J];中國(guó)電子商情(基礎(chǔ)電子);2013年04期

7 何丁;;降低金屬薄膜電阻的有效方法[J];半導(dǎo)體情報(bào);1976年01期

8 曲楓;袁凱;;高穩(wěn)定薄膜電阻的研究[J];微處理機(jī);1988年03期

9 白亞旭;袁正希;何為;何波;莫蕓琦;;濺射制作埋嵌電阻的TaN薄膜電阻率的控制[J];印制電路信息;2010年12期

10 錄叢;幾種薄膜電阻溫度系數(shù)的測(cè)量[J];半導(dǎo)體技術(shù);1981年03期

中國(guó)重要會(huì)議論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前5條

1 吳勇;莊奕琪;杜磊;魏文彥;;薄膜電阻器件的低頻噪聲測(cè)試方法研究[A];第十四屆全國(guó)混合集成電路學(xué)術(shù)會(huì)議論文集[C];2005年

2 朱亞彬;魏敏建;何帆;劉依真;王保軍;陳志杰;;真空變溫薄膜電阻測(cè)試儀器的設(shè)計(jì)與應(yīng)用[A];第六屆全國(guó)高等學(xué)校物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)研討會(huì)論文集（下冊(cè)）[C];2010年

3 彭銀橋;周繼承;;熱處理對(duì)納米薄膜電阻的影響及其穩(wěn)定性研究[A];納米材料和技術(shù)應(yīng)用進(jìn)展——全國(guó)第三屆納米材料和技術(shù)應(yīng)用會(huì)議論文集（下卷）[C];2003年

4 姜偉;唐俊峰;;濺射法制作CrSi薄膜電阻工藝技術(shù)[A];第十四屆全國(guó)混合集成電路學(xué)術(shù)會(huì)議論文集[C];2005年

5 黃麗娜;曲炳郡;劉理天;;Ag/La_(0．67)Sr_(0．33)MnO_3薄膜電阻開(kāi)關(guān)特性的研究[A];第十屆全國(guó)敏感元件與傳感器學(xué)術(shù)會(huì)議論文集[C];2007年

中國(guó)重要報(bào)紙全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前3條

1 黃女瑛 DigiTimes;國(guó)巨薄膜電阻扎營(yíng)車(chē)用市場(chǎng)[N];電子資訊時(shí)報(bào);2006年

2 通訊員　石明山 記者　張兆軍;我首臺(tái)多功能薄膜電阻精修機(jī)面世[N];科技日?qǐng)?bào);2006年

3 云南 龔龍?jiān)?常用電阻特性?xún)?yōu)缺點(diǎn)比較[N];電子報(bào);2011年

中國(guó)碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前7條

1 霍進(jìn)遷;NiO_x薄膜電阻開(kāi)關(guān)存儲(chǔ)器制備及性能研究[D];西南大學(xué);2015年

2 姚瑞楠;高精度高穩(wěn)定鉻硅薄膜電阻制備技術(shù)研究[D];重慶郵電大學(xué);2010年

3 吳勇;薄膜電阻器件低頻噪聲測(cè)量與可靠性研究[D];西安電子科技大學(xué);2005年

4 張鐸;高穩(wěn)定性Ni-Cr薄膜電阻的研究[D];電子科技大學(xué);2010年

5 夏豐金;鉭薄膜電阻的制備及性能研究[D];湖南大學(xué);2009年

6 王陽(yáng);測(cè)溫式光纖直流電流測(cè)量技術(shù)的研究[D];沈陽(yáng)工業(yè)大學(xué);2012年

7 高浠萌;測(cè)溫式光纖電流傳感器關(guān)鍵技術(shù)的研究[D];沈陽(yáng)工業(yè)大學(xué);2015年

，

本文編號(hào)：616384