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清洗系統(tǒng)在晶圓減薄后的應(yīng)用

發(fā)布時(shí)間:2017-07-01 02:16

  本文關(guān)鍵詞:清洗系統(tǒng)在晶圓減薄后的應(yīng)用,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。


【摘要】:根據(jù)集成電路晶圓的不同用途,分析了晶圓減薄后,殘留的污染物對(duì)后續(xù)工藝的影響;提出了一種集成在減薄機(jī)內(nèi)部的清洗系統(tǒng),根據(jù)清洗目標(biāo),配套了完整的清洗方案。
【作者單位】: 中國電子科技集團(tuán)公司第四十五研究所;
【關(guān)鍵詞】晶圓 減薄后 清洗系統(tǒng)
【分類號(hào)】:TN305.97
【正文快照】: 從集成電路的發(fā)展趨勢看,出于終端應(yīng)用特別是移動(dòng)設(shè)備對(duì)更高性能、更低成本、更小形狀因子的器件需求,晶圓片直徑在逐步增大,同時(shí)封裝用的晶圓厚度逐步減小。由于市場需求的不斷更新,芯片厚度減薄的趨勢越來越快,導(dǎo)致薄晶圓的加工風(fēng)險(xiǎn)越來越高,對(duì)晶圓減薄設(shè)備的技術(shù)要求也越來

【相似文獻(xiàn)】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前5條

1 ;信息報(bào)道[J];電子與封裝;2007年02期

2 ;SEZ揭開業(yè)界最高產(chǎn)的采用90NM技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的單晶濕處理清洗系統(tǒng)的神秘面紗[J];集成電路應(yīng)用;2003年07期

3 ;SEZ揭開業(yè)界最高產(chǎn)的采用90-NM技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的單晶濕處理清洗系統(tǒng)的神秘面紗[J];中國集成電路;2003年07期

4 本刊通訊員;;FSI國際宣布帶有ViPR~(TM)技術(shù)的ZETA~汶噴霧式清洗系統(tǒng)已完成200mm制造工藝驗(yàn)證[J];電子與封裝;2009年01期

5 ;[J];;年期


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本文編號(hào):504303

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