本文關(guān)鍵詞：基于UVM驗(yàn)證方法學(xué)的縱向可重用研究，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：現(xiàn)在片上系統(tǒng)(SOC)的復(fù)雜度和集成度越來(lái)越高,這給驗(yàn)證帶來(lái)了巨大的挑戰(zhàn).傳統(tǒng)的驗(yàn)證方法存在各種不足,在效率方面已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)達(dá)不到生產(chǎn)的要求.UVM是近年來(lái)興起的一種高效的通用驗(yàn)證方法學(xué),不僅可以縮短驗(yàn)證周期,而且具有很好的可重用性.UVM驗(yàn)證方法學(xué)的可重用主要分為橫向的可重用和縱向的可重用,主要闡述了UVM中縱向可重用的方法,并以APB總線為例,描述了從模塊級(jí)到系統(tǒng)級(jí)的驗(yàn)證平臺(tái)的搭建方法,這種方法很好地體現(xiàn)了縱向重用提高驗(yàn)證效率的優(yōu)勢(shì).
【作者單位】： 中國(guó)科學(xué)院微電子研究所;
【關(guān)鍵詞】： UVM 縱向可重用 APB總線
【分類號(hào)】：TN47
【正文快照】： 1引言隨著超大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)復(fù)雜度和集成度的提高,集成電路的驗(yàn)證也面臨著巨大的挑戰(zhàn).在芯片的研發(fā)過(guò)程中,在驗(yàn)證上所花費(fèi)的時(shí)間占到了整體時(shí)間的70%[1],芯片驗(yàn)證已經(jīng)成為芯片研發(fā)中最關(guān)鍵的環(huán)節(jié).傳統(tǒng)的驗(yàn)證語(yǔ)言存在抽象建模能力不足,擴(kuò)展和維護(hù)很難,缺少帶約束的隨機(jī)激勵(lì)

【參考文獻(xiàn)】

中國(guó)碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前1條

1 李博;基于SystemVerilog-VMM的仿真環(huán)境設(shè)計(jì)及其應(yīng)用[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2009年

【共引文獻(xiàn)】

中國(guó)碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前1條

1 趙唯唯;面向無(wú)線傳感器網(wǎng)絡(luò)的UVM驗(yàn)證方法應(yīng)用研究[D];西安電子科技大學(xué);2014年

【相似文獻(xiàn)】

中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前1條

1 ;更佳的UVM配置[J];電子設(shè)計(jì)工程;2011年10期

  本文關(guān)鍵詞：基于UVM驗(yàn)證方法學(xué)的縱向可重用研究，，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

本文編號(hào)：500118