本文關(guān)鍵詞：嵌入式光源光譜及光電器件特性測(cè)試系統(tǒng)，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：隨著光電信息產(chǎn)業(yè)的迅速發(fā)展,傳統(tǒng)的光電特性測(cè)試儀器設(shè)備,不僅功能受限,而且操作難度較大。系統(tǒng)集成化、小體積、多功能的光電器件特性測(cè)試系統(tǒng)成為高校和企業(yè)的首選測(cè)試系統(tǒng)。而國(guó)內(nèi)外對(duì)此類(lèi)光電特性測(cè)試系統(tǒng)都處于探索階段,就目前而言,沒(méi)有一個(gè)教學(xué)級(jí)的光電特性測(cè)試系統(tǒng)能夠具有功能集成化、設(shè)備小型化、操作簡(jiǎn)單化、界面友好化等特點(diǎn)。本文提出并設(shè)計(jì)的嵌入式光源光譜及光電器件特性測(cè)試系統(tǒng),在實(shí)現(xiàn)嵌入式硬件設(shè)計(jì)和Linux系統(tǒng)裁剪和移植的基礎(chǔ)上,采用ARM架構(gòu)的嵌入式處理器和Linux系統(tǒng)作為信息處理中心,使用Qt制作人機(jī)交互界面,配合相應(yīng)的硬件電路完成測(cè)試系統(tǒng)的功能設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了光敏電阻、光電池和光電二極管等常用光電器件的光電特性測(cè)試和光譜特性測(cè)試,其中,測(cè)試的光電特性為光電器件的光照特性,光譜特性為光電器件的光譜響應(yīng)度。同時(shí)還實(shí)現(xiàn)了光源的發(fā)射光譜測(cè)試,可檢測(cè)400nm~1100nm波段范圍的光源光譜特性。經(jīng)驗(yàn)證,本文設(shè)計(jì)的測(cè)試系統(tǒng),能夠完成常用光電器件的光電特性和光譜特性定量測(cè)試以及光源的發(fā)射光譜特性的定量測(cè)試,并在人機(jī)交互界面以曲線(xiàn)的形式顯示光電器件相應(yīng)的特性。
【關(guān)鍵詞】：光電器件 光電特性 光譜特性 光源光譜 ARM Linux系統(tǒng)
【學(xué)位授予單位】：長(zhǎng)春理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類(lèi)號(hào)】：TN06
【目錄】：

• 摘要4-5
• ABSTRACT5-8
• 第一章 緒論8-11
• 1.1 本文研究背景及意義8
• 1.2 國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀8-10
• 1.3 論文研究主要工作10-11
• 第二章 嵌入式光源光譜及光電器件特性測(cè)試系統(tǒng)總體方案11-21
• 2.1 系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)11
• 2.2 光電效應(yīng)與光電器件理論概述11-15
• 2.3 光電傳感器特性測(cè)試模塊方案設(shè)計(jì)15-16
• 2.3.1 光電特性測(cè)試方案15
• 2.3.2 光譜特性測(cè)試方案15-16
• 2.4 光源發(fā)射光譜測(cè)試模塊方案設(shè)計(jì)16-21
• 2.4.1 發(fā)射光譜理論16-17
• 2.4.2 分光單元17-18
• 2.4.3 光電探測(cè)器件18-20
• 2.4.4 光源發(fā)射光譜測(cè)試方案20-21
• 第三章 系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)21-44
• 3.1 系統(tǒng)總體硬件設(shè)計(jì)21-22
• 3.2 光電特性單元22-27
• 3.2.1 恒流源控制電路22-23
• 3.2.2 恒流源電路23-24
• 3.2.3 信號(hào)放大電路24-25
• 3.2.4 A/D轉(zhuǎn)換電路25-27
• 3.3 光譜特性單元27-31
• 3.3.1 自動(dòng)分光27-31
• 3.3.2 信號(hào)調(diào)理電路31
• 3.4 光源發(fā)射光譜單元31-37
• 3.4.1 CCD工作電路32-33
• 3.4.2 專(zhuān)用A/D轉(zhuǎn)換電路33-35
• 3.4.3 USB通信電路35-37
• 3.5 屏幕顯示電路37-38
• 3.6 嵌入式信息處理中心38-40
• 3.7 電源電路40-43
• 3.8 本章小結(jié)43-44
• 第四章 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)44-57
• 4.1 搭建嵌入式信息處理中心44-51
• 4.1.1 嵌入式Linux系統(tǒng)44-45
• 4.1.2 搭建嵌入式Linux開(kāi)發(fā)平臺(tái)45-49
• 4.1.3 人機(jī)交互界面設(shè)計(jì)49-51
• 4.2 測(cè)試系統(tǒng)程序設(shè)計(jì)51-56
• 4.2.1 光電特性測(cè)試單元52-54
• 4.2.2 光譜特性測(cè)試單元54-55
• 4.2.3 光源發(fā)射光譜特性測(cè)試單元55-56
• 4.3 本章小結(jié)56-57
• 第五章 系統(tǒng)測(cè)試與分析57-64
• 5.1 系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)57-59
• 5.2 光電特性測(cè)試59-61
• 5.2.1 光敏電阻光電特性測(cè)試59
• 5.2.2 光電池特性光電測(cè)試59-60
• 5.2.3 光電二極管光電特性測(cè)試60-61
• 5.3 光譜特性測(cè)試系統(tǒng)61-63
• 5.3.1 光敏電阻光譜特性測(cè)試61-62
• 5.3.2 光電池光譜特性測(cè)試62
• 5.3.3 光電二極管光譜特性測(cè)試62-63
• 5.4 光源發(fā)射光譜特性測(cè)試系統(tǒng)63
• 5.5 本章小結(jié)63-64
• 總結(jié)64-65
• 參考文獻(xiàn)65-67
• 作者簡(jiǎn)介及科研成果67-68
• 致謝68

  本文關(guān)鍵詞：嵌入式光源光譜及光電器件特性測(cè)試系統(tǒng)，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

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本文編號(hào)：452165