對(duì)應(yīng)用于電源組件中的過流/短路保護(hù)電路在高溫環(huán)境下誤啟動(dòng)的原因進(jìn)行了分析,確定導(dǎo)致電路失效的原因?yàn)殡娐穮?shù)設(shè)計(jì)不合理。在上電過程中,誤觸發(fā)保護(hù)電路的狀態(tài)鎖存電路會(huì)使電路誤入保護(hù)狀態(tài),導(dǎo)致電源組件無法正常上電啟動(dòng)�；贓DA仿真分析工具,得到設(shè)計(jì)優(yōu)化方案。R₁由原來的10 kΩ降低至5.1 kΩ,R₄由原來的6.8 kΩ增大至10 kΩ,C₁由510 pF增大至0.1μF,有效解決了保護(hù)電路的誤啟動(dòng)問題。分析并總結(jié)了高可靠保護(hù)電路的一般設(shè)計(jì)流程和關(guān)注重點(diǎn)。

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【文章目錄】：
0 引 言
1 失效現(xiàn)象及原因分析
    1.1 電路結(jié)構(gòu)及工作原理
    1.2 失效現(xiàn)象
    1.3 原因分析
        1.3.1 初步定位分析
            (1) 驗(yàn)證一。
            (2) 驗(yàn)證二。
        1.3.2 鎖存電路異常啟動(dòng)分析
2 失效機(jī)理及設(shè)計(jì)改進(jìn)
    2.1 失效機(jī)理
    2.2 設(shè)計(jì)改進(jìn)
    2.3 推薦設(shè)計(jì)流程
3 結(jié) 論



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