基于隧道磁電阻的IGBT模塊短路及過流保護(hù)的研究
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【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
圖1-1IGBT的應(yīng)用領(lǐng)域
浙江大學(xué)碩士學(xué)位論文緒論1第1章緒論1.1論文研究背景及意義絕緣柵雙極型晶體管(InsulatedGateBipolarTransistor,IGBT)一種全控型電壓驅(qū)動(dòng)式功率半導(dǎo)體器件,由于采用電壓控制,驅(qū)動(dòng)功率遠(yuǎn)小于晶閘管或功率三極管;開通時(shí)由于電導(dǎo)效應(yīng),導(dǎo)通電阻小,是中高壓....
圖1-3短路故障的分類[7]
浙江大學(xué)碩士學(xué)位論文緒論2根據(jù)發(fā)生短路故障時(shí)開關(guān)器件所處的狀態(tài)不同,可以將短路故障分為硬開關(guān)故障(HardSwitchingFault,HSF)和負(fù)載故障(FaultUnderLoad,F(xiàn)UL)。其中,當(dāng)負(fù)載在器件開通前已經(jīng)短路,器件開通時(shí)發(fā)生的短路故障稱為硬開關(guān)故障;而當(dāng)器件處....
圖1-4退飽和保護(hù)的典型電路
浙江大學(xué)碩士學(xué)位論文緒論3圖1-4退飽和保護(hù)的典型電路另一種電壓型方案是檢測(cè)門極驅(qū)動(dòng)的電壓[10]-[14]。這些方法都是基于對(duì)門極驅(qū)動(dòng)電壓(vge)在正常工作狀態(tài)和短路故障下不同行為的比較。如圖1-5所示,當(dāng)硬開關(guān)故障發(fā)生時(shí),vge在開通過程中會(huì)丟失米勒平臺(tái);而當(dāng)負(fù)載故障發(fā)生時(shí)....
圖1-5基于檢測(cè)門極驅(qū)動(dòng)的
浙江大學(xué)碩士學(xué)位論文緒論3圖1-4退飽和保護(hù)的典型電路另一種電壓型方案是檢測(cè)門極驅(qū)動(dòng)的電壓[10]-[14]。這些方法都是基于對(duì)門極驅(qū)動(dòng)電壓(vge)在正常工作狀態(tài)和短路故障下不同行為的比較。如圖1-5所示,當(dāng)硬開關(guān)故障發(fā)生時(shí),vge在開通過程中會(huì)丟失米勒平臺(tái);而當(dāng)負(fù)載故障發(fā)生時(shí)....
本文編號(hào):3917992
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