鎖相環(huán)廣泛應(yīng)用于頻率合成、時(shí)鐘分配、相位解調(diào)以及時(shí)鐘恢復(fù)等,是無線通信、光纖鏈路、射頻收發(fā)機(jī)及微型計(jì)算機(jī)等必不可少的一部分,其可測性設(shè)計(jì)對于確保整個(gè)電子系統(tǒng)的性能具有重要意義。常規(guī)鎖相環(huán)可測性方法將結(jié)構(gòu)測試和性能測試分離,導(dǎo)致測試需要復(fù)雜的外部測試儀器來驗(yàn)證待測鎖相環(huán)的性能,或者不能檢測鎖相環(huán)中是否存在故障;且測試電路較為復(fù)雜,面積開銷大。將兩者分離測試需要較高的測試成本和較長的測試時(shí)間,降低了測試技術(shù)工程應(yīng)用的價(jià)值。而當(dāng)前少數(shù)幾種能夠同時(shí)完成結(jié)構(gòu)測試和性能評估的鎖相環(huán)可測性方法大多采用相互獨(dú)立的測試結(jié)構(gòu),致使測試電路更加復(fù)雜,面積開銷甚至可能超過待測鎖相環(huán)電路的芯片面積,成本較高,且其故障覆蓋率和測試分辨率仍有待提高。因此本文從兼顧結(jié)構(gòu)測試和性能評估的鎖相環(huán)可測性方案出發(fā),重點(diǎn)研究了用同一個(gè)具有較高故障覆蓋率和抖動(dòng)測量分辨率的可測性電路同時(shí)完成鎖相環(huán)的片上故障檢測和抖動(dòng)測量。本文的主要工作及創(chuàng)新點(diǎn)包括:(1)研究了電荷泵鎖相環(huán)結(jié)構(gòu)中故障與抖動(dòng)的關(guān)系,分別從系統(tǒng)理論模型,行為級模型和晶體管級模型入手,定性定量分析了故障對抖動(dòng)的影響。(2)提出了一種兼顧結(jié)構(gòu)測試和性能評估的鎖相環(huán)可測性結(jié)...

【文章頁數(shù)】：130 頁

【學(xué)位級別】：博士

【文章目錄】：
摘要
ABSTRACT
第一章 緒論
    1.1 論文研究背景和意義
    1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀
    1.3 論文主要工作和創(chuàng)新點(diǎn)
    1.4 論文的結(jié)構(gòu)
第二章 鎖相環(huán)可測性概述
    2.1 鎖相環(huán)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和性能指標(biāo)
    2.2 鎖相環(huán)的可測性綜述與分析
    2.3 鎖相環(huán)可測性方法總結(jié)
    2.4 本章小結(jié)
第三章 兼顧結(jié)構(gòu)測試和性能評估的鎖相環(huán)可測性研究
    3.1 鎖相環(huán)可測性系統(tǒng)研究與設(shè)計(jì)
    3.2 待測鎖相環(huán)的研究與設(shè)計(jì)
    3.3 鎖相環(huán)可測性設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)中故障對抖動(dòng)影響的研究分析
    3.4 本章小結(jié)
第四章 鎖相環(huán)DFT結(jié)構(gòu)中故障測試技術(shù)的研究與設(shè)計(jì)
    4.1 鎖相環(huán)故障測試原理
    4.2 鎖相環(huán)片上故障測試技術(shù)研究
    4.3 鎖相環(huán)故障測試結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)與驗(yàn)證
    4.4 本章小結(jié)
第五章 鎖相環(huán)DFT結(jié)構(gòu)中抖動(dòng)測量技術(shù)的研究與設(shè)計(jì)
    5.1 鎖相環(huán)抖動(dòng)測量原理
    5.2 鎖相環(huán)片上抖動(dòng)測量技術(shù)研究
    5.3 鎖相環(huán)抖動(dòng)測量方案分析
    5.4 鎖相環(huán)抖動(dòng)測量結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)與驗(yàn)證
    5.5 本章小結(jié)
第六章 鎖相環(huán)DFT電路的驗(yàn)證與結(jié)果分析
    6.1 鎖相環(huán)DFT電路設(shè)計(jì)
    6.2 鎖相環(huán)DFT電路驗(yàn)證和分析
    6.3 本章小結(jié)
第七章 總結(jié)和展望
    7.1 論文總結(jié)
    7.2 展望
致謝
參考文獻(xiàn)
博士階段獲得的研究成果



本文編號：3873896