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基于三維缺陷檢測(cè)的雙光路雙遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)

發(fā)布時(shí)間:2022-07-22 18:54
  針對(duì)基于SMT技術(shù)生產(chǎn)的PCB板產(chǎn)品的三維缺陷檢測(cè)問(wèn)題,設(shè)計(jì)了一款高分辨率、高遠(yuǎn)心度及低畸變的雙光路雙遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)。它通過(guò)遠(yuǎn)心投影物鏡經(jīng)共光路物鏡將DMD數(shù)字條紋均勻投影至待測(cè)物面,同時(shí)經(jīng)由共光路物鏡和成像物鏡收集物面反射條紋光至CMOS接收面。使用ZEMAX光學(xué)軟件分別對(duì)三部分鏡組進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì),分析了系統(tǒng)的像差和調(diào)制傳遞函數(shù)。設(shè)計(jì)結(jié)果表明:共光路物鏡部分采用長(zhǎng)工作距離、大視場(chǎng)角及物方遠(yuǎn)心結(jié)構(gòu),空間頻率50lp/mm處,各視場(chǎng)的MTF接近衍射極限;投影光路畸變小于0.1%,在投影面上全視場(chǎng)范圍MTF在6lp/mm處大于0.8且條紋周期均勻;成像光路畸變小于0.05%,在全視場(chǎng)范圍MTF在80lp/mm處大于0.3。仿真成像結(jié)果表明,在離焦量為+/-6mm時(shí)仍能達(dá)到景深范圍內(nèi)分辨率要求,能有效提高3D AOI檢測(cè)質(zhì)量。且雙光路雙遠(yuǎn)心系統(tǒng)所用材料基本為普通玻璃且重復(fù)率較高,利于加工和節(jié)省成本。 

【文章頁(yè)數(shù)】:6 頁(yè)

【文章目錄】:
0 引言
1 雙光路雙遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)的工作原理及結(jié)構(gòu)特征
2 雙光路雙遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)指標(biāo)
    2.1 視場(chǎng)計(jì)算
    2.2 放大倍率
    2.3 其他相關(guān)參數(shù)計(jì)算
3 雙光路雙遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)的優(yōu)化設(shè)計(jì)及仿真結(jié)果
    3.1 系統(tǒng)優(yōu)化過(guò)程
    3.2 系統(tǒng)的光學(xué)性能評(píng)價(jià)
    3.3 系統(tǒng)仿真結(jié)果
4 結(jié)論


【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]雙遠(yuǎn)心數(shù)字條紋投影的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)[J]. 王雅楠,萬(wàn)新軍,韋曉孝,張薇.  光學(xué)技術(shù). 2018(06)
[2]自動(dòng)光學(xué)(視覺(jué))檢測(cè)技術(shù)及其在缺陷檢測(cè)中的應(yīng)用綜述[J]. 盧榮勝,吳昂,張騰達(dá),王永紅.  光學(xué)學(xué)報(bào). 2018(08)
[3]高分辨率長(zhǎng)焦廣角低畸變光學(xué)成像系統(tǒng)設(shè)計(jì)[J]. 張建隆,賀磊,楊振.  應(yīng)用光學(xué). 2017(05)
[4]AOI技術(shù)在PCB缺陷檢測(cè)中的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[J]. 郭民,王蕊.  測(cè)控技術(shù). 2016(12)
[5]基于SMT技術(shù)的組裝新工藝探討[J]. 趙少偉,張婧亮,韓春.  電子工藝技術(shù). 2016(04)
[6]基于三維缺陷檢測(cè)的DMD數(shù)字條紋投影光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)[J]. 陳方涵,趙光宇,蔣仕龍,彭文達(dá).  光子學(xué)報(bào). 2015(02)
[7]光學(xué)非接觸廓形測(cè)量技術(shù)研究進(jìn)展[J]. 尚妍,徐春廣.  光學(xué)技術(shù). 2008(S1)
[8]CCD相機(jī)在系統(tǒng)奈奎斯特頻率處的調(diào)制傳遞函數(shù)[J]. 楊樺,焦文春,朱永紅,劉穎.  光學(xué)學(xué)報(bào). 2002(03)

碩士論文
[1]基于雙遠(yuǎn)心系統(tǒng)的三維測(cè)量技術(shù)研究[D]. 高盼盼.華南理工大學(xué) 2016
[2]基于圖像匹配的PCB缺陷檢測(cè)算法研究[D]. 羅丹.東北大學(xué) 2014
[3]SMT組裝生產(chǎn)中AOI系統(tǒng)的研究[D]. 胡水華.西安電子科技大學(xué) 2005



本文編號(hào):3665150

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