電子系統(tǒng)裝備的發(fā)展促進了高性能模數(shù)轉換器的發(fā)展。時間交織模數(shù)轉換器（Time-Interleaved Analog-to-Digital Converter,TI-ADC）利用交織采樣技術獲取高采樣速率,但是工藝偏差、器件老化、工作環(huán)境變化等因素將帶來TI-ADC子通道間的失配,包括失調失配、增益失配和采樣時間失配等。通道間失配對轉換器的動態(tài)性能影響很大,并且隨著工藝的進步,通道間的失配問題更加凸顯,因此解決通道間失配的校準技術應運而生。文中首先分析了主要的三種通道間失配誤差,調研了數(shù)字校準技術的發(fā)展現(xiàn)狀;然后,針對最難處理的采樣時間失配誤差設計了一種全數(shù)字前饋式TI-ADC校準算法,通過構建誤差提取函數(shù)來估計TI-ADC兩個相鄰采樣點間的采樣時間相位差,從而組成線性方程組獲得時間失配的大小,并基于泰勒展開原理進行誤差補償;隨后,設計了一種TI-ADC的通道隨機化技術,將校準后剩余的雜散轉化為噪聲,在不影響系統(tǒng)的SNDR前提下,提高了SFDR性能。文中設計的校準算法具有結構簡單、適用帶寬范圍廣、系統(tǒng)穩(wěn)定、收斂速度快等特點,并具有很好的拓展性,可用于任意通道數(shù)的TI-ADC系統(tǒng)。研究中遇... 

【文章來源】：合肥工業(yè)大學安徽省 211工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：77 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

功耗采樣率比值和SNDR的關系

2圖 1.2 品質因數(shù)和采樣率的關系[4]Figure 1.2 Relationship between FOMS and sampling rate[4]表 1.1 近 4 年發(fā)表在 VLSI 期刊上的奈奎斯特采樣型 ADC 統(tǒng)計Table 1.1 Nyquist sampling ADC statistics published in VLSI journals in the past 4 yea 架構 工藝 SNDR 功耗 采樣 SAR 0.18 um 46.9 dB 120 nW 100

第一章 緒論數(shù)字電路的性能和成本優(yōu)勢明顯大于模擬電路，在 ADC 設計中已成為學界研究熱點之一。準技術技術是在模擬、數(shù)字或混合信號域，通過構造 ADC 傳輸特性函 ADC 傳輸函數(shù)的非線性，使其轉換的輸出恢復線性，校準技術 所示。由于校準單元在采用模擬電路時，往往需要改進被校準的模路設計的復雜度，更重要是模擬校準電路本身也會受限于工藝這使得實現(xiàn)高精度的純模擬校準設計難度非常大，而校準的效。數(shù)字域的校準技術實現(xiàn)主要通過數(shù)字信號處理技術，可以盡電路，設計靈活性更高，電路的魯棒性更好。通過數(shù)字電路實可以發(fā)揮 CMOS 工藝帶來的數(shù)字電路在處理速度、功耗和集成以低成本換取 ADC 整體性能的提高。

【參考文獻】：
期刊論文
[1]一種對失調和電容失配誤差進行補償?shù)牧魉�ADC子級電路[J]. 戴強,薛顏,楊霄壘,周啟才,吳俊,郭良權.  電子器件. 2014(05)
[2]低功耗-高速-高精度SARADC的FoM函數(shù)研究[J]. 胡黎斌,李文石.  電子器件. 2011(03)
[3]基于FPGA的開方運算實現(xiàn)[J]. 萬明康,陳國軍,王大鳴.  數(shù)據采集與處理. 2006(S1)
[4]LMS算法的二次穩(wěn)定性及魯棒LMS算法[J]. 楊然,許曉鳴,張衛(wèi)東.  電子學報. 2001(01)
[5]M-獨立條件下LMS算法的穩(wěn)定區(qū)域[J]. 王遠,解學軍.  自動化學報. 2000(04)

博士論文
[1]時間交叉模數(shù)轉換器數(shù)字校準技術研究[D]. 張睿.合肥工業(yè)大學 2012
[2]流水線模數(shù)轉換器偽隨機序列注入后臺快速數(shù)字校準技術研究[D]. 梁上泉.合肥工業(yè)大學 2011

碩士論文
[1]深亞微米CMOS工藝下時間數(shù)字轉換器的研究與設計[D]. 韓威力.中國科學技術大學 2017
[2]時間交織ADC全數(shù)字校準算法的研究與設計[D]. 蹇茂琛.合肥工業(yè)大學 2017
[3]基于FPGA的除法器的設計和實現(xiàn)[D]. 安然.成都理工大學 2011



本文編號：3486115