受環(huán)境變化和老化的影響,物理不可克隆函數(PUF)會呈現輸出不可靠的問題,這會降低它們在識別和認證應用中的接受度。改善PUF可靠性的現有方法包括更好的結構設計、后處理誤差校正、不匹配選擇等,但這些方法在測試時間和設計開銷方面成本較高。因此,提出了一種針對PUF映射單元的穩(wěn)定性測試方案。基于量化競爭路徑延時差異的測試策略,通過識別和篩選掉使PUF結果不穩(wěn)定的映射單元,選擇性映射到合適的片(Slice)上,在SRAM型FPGA上實現了一個低資源開銷、高可靠性的SR-Latch PUF。實驗結果表明,PUF單元被緊湊地映射進一個Slice,其資源開銷較小。當溫度變化為20℃～80℃、電壓波動為0.8～1.2 V時,在三個FPGA平臺進行多次重復測試,沒有檢測到不可靠的PUF位,可靠性達到100%。

【文章來源】： 微電子學. 2020,50(02)北大核心

【文章頁數】：6 頁

【文章目錄】：
0 引 言
1 SR-Latch PUF的基本原理
2 PUF可靠性分析
3 本文方法
    3.1 扇出插入原理
    3.2 本文架構
    3.3 實驗原理
4 實驗結果
5 結 論



本文編號：3482492