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片式電容Sn96.5/Ag3/Cu0.5焊點熱疲勞性能比較

發(fā)布時間:2021-09-04 22:45
  以0805封裝片式電容器件焊點為研究對象,建立了多周期溫度沖擊下Sn96.5/Ag3/Cu0.5的焊點有限元分析模型,開展了多周期溫度沖擊條件下焊點剪切力測試工作,獲得了Sn96.5/Ag3/Cu0.5和Sn63/Pb37兩種焊點的周期-剪切力測試數(shù)據(jù),并利用非線性最小二乘法得到了1 500個周期內(nèi)的焊點熱疲勞狀態(tài)擬合曲線.結(jié)果表明,在規(guī)定試驗條件下,在有限的1 500個周期內(nèi)0805封裝電容的Sn96.5/Ag3/Cu0.5焊點的熱疲勞劣化速率略慢于Sn63/Pb37焊點. 

【文章來源】:焊接學(xué)報. 2017,38(03)北大核心EICSCD

【文章頁數(shù)】:5 頁

【文章目錄】:
0序言
1 焊點有限元模型建立及分析
    1.1 焊點有限元模型的建立
    1.2 材料特性
    1.3 溫度循環(huán)載荷
    1.4 結(jié)果分析
2 焊點熱疲勞壽命試驗
    2.1 試驗樣本
    2.2 焊點溫度沖擊試驗
    2.3 焊點剪切力測試
        2.3.1 測試方法
        2.3.2 測試結(jié)果
3 數(shù)據(jù)處理及分析
    3.1 非線性最小二乘Gauss-Newton算法
    3.2 結(jié)果分析
4 結(jié)論


【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
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[2]考慮IMC影響的PBGA無鉛焊點溫度循環(huán)有限元數(shù)值模擬[J]. 魏鶴琳,王奎升.  焊接學(xué)報. 2012(01)
[3]熱循環(huán)加載片式元器件帶空洞無鉛焊點的可靠性[J]. 王斌,黃春躍,李天明.  電子元件與材料. 2011(06)
[4]片式元件焊點的熱循環(huán)應(yīng)力應(yīng)變模擬技術(shù)研究[J]. 周斌,邱寶軍,羅道軍.  電子元件與材料. 2008(07)
[5]QFP組件的優(yōu)化模擬及焊點熱疲勞壽命的預(yù)測[J]. 吳玉秀,薛松柏,張玲,黃翔.  焊接學(xué)報. 2006(08)
[6]QFP結(jié)構(gòu)微焊點強度的試驗[J]. 胡永芳,薛松柏,禹勝林.  焊接學(xué)報. 2005(10)



本文編號:3384142

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