質子背光成像技術是一種診斷等離子體電磁場的重要診斷手段.當質子穿過等離子體的電磁場,質子受洛倫茲力影響在成像板上重新分布.如何從質子成像結果中重構電磁場是一個非常重要的研究課題.本文以激光驅動電容線圈靶為例介紹和對比了粒子追蹤法和流量分析法這兩種通過質子成像結果重構磁場的方法.激光驅動電容線圈靶通過激光打靶在電容靶兩側產(chǎn)生電勢,然后很強的電流流過線圈,最后產(chǎn)生高達千特斯拉的感應磁場,在激光等離子體實驗中這是一種重要的產(chǎn)生磁場的手段.本工作中先使用粒子追蹤法在不同強度的理論磁場環(huán)境下得到質子成像結果,然后使用流量分析法從這些理論質子成像結果重構磁場,最后對比理論磁場和重構磁場以獲得兩種方法的優(yōu)缺點.粒子追蹤法可以重現(xiàn)實驗中質子源、等離子體磁場和成像板的布局結構,但是依賴于精確的理論磁場的計算和龐大的計算量來模擬質子的軌跡,并需要不斷修正理論磁場來獲得最接近實驗結果的模擬結果.流量分析法可以直接從實驗的質子成像結果重構磁場結構.但是,流量分析法只適用于磁場較小的情況,當磁場較大時其重構的磁感應強度會誤差較大.可以使用一個無量綱參量μ來衡量質子穿過作用區(qū)域單位長度后在成像板上的偏折距離,流量... 

【文章來源】：物理學報. 2020,69(17)北大核心EISCICSCD

【文章頁數(shù)】：9 頁

【參考文獻】：
期刊論文
[1]Weibel不穩(wěn)定性自生電磁場對探針質子束的偏轉作用研究[J]. 杜報,蔡洪波,張文帥,陳京,鄒士陽,朱少平.  物理學報. 2019(18)



本文編號：3323412