目前智能設備是時代的焦點,智能手機、可穿戴智能設備、智能家居等已成為人們生活不可缺少的一部分。隨著以多功能、低功耗、小型化為特點的智能設備的不斷發(fā)展,用戶對智能設備的要求也逐漸提高,這使得智能設備的核心—SOC（System On Chip）芯片集成的功能越來越多,設計規(guī)模和設計難度也不斷增大,這給SOC的驗證工作帶來了巨大的挑戰(zhàn)。本文主要針對模式可變SOC（MC-SOC/Mode Changeable-SOC）的功能驗證進行分析研究,以UVM（Universal Verification Methodology）通用驗證方法學和SystemVerilog硬件驗證語言為理論基礎,將MC-SOC以及內(nèi)部IP作為研究對象,旨在利用UVM驗證方法學搭建一個可重用的SOC系統(tǒng)驗證平臺,通過分析功能點、施加隨機化激勵,收集功能覆蓋率,報告自檢結(jié)果等方式對MC-SOC系統(tǒng)中的IP模塊實施較完備的功能驗證。本文首先對SOC驗證在國內(nèi)外的研究現(xiàn)狀進行了闡述,分析了各類驗證方法以及其優(yōu)缺點,并介紹了主流驗證方法學。然后對MC-SOC系統(tǒng)的架構、功能特性進行了分析說明,并結(jié)合UVM驗證方法學,對MC-SO... 

【文章來源】：電子科技大學四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：82 頁

【學位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
abstract
第一章 緒論
    1.1 課題的背景和研究意義
    1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀
    1.3 主要工作和文章結(jié)構
第二章 UVM驗證方法學概述
    2.1 UVM驗證平臺結(jié)構
    2.2 UVM中的基類以及層級結(jié)構
    2.3 UVM中的通信機制
    2.4 UVM中的寄存器模型
    2.5 UVM中的phase機制
    2.6 本章小結(jié)
第三章 MC-SOC系統(tǒng)及驗證策略概述
    3.1 MC-SOC系統(tǒng)概述
        3.1.1 MC-SOC系統(tǒng)架構
        3.1.2 AMBA總線概述
    3.2 MC-SOC驗證方法概述
        3.2.1 功能驗證概述
        3.2.2 MC-SOC驗證策略分析
    3.3 本章小結(jié)
第四章 基于UVM的可重用驗證平臺
    4.1 SPI控制器功能分析
        4.1.1 SPI接口協(xié)議
        4.1.2 SPI控制器介紹
        4.1.3 SPI控制器驗證功能點分析
    4.2 SPI控制器驗證平臺概述
        4.2.1 驗證平臺的系統(tǒng)架構
        4.2.2 驗證平臺的執(zhí)行流程
    4.3 Testbench中驗證組件的設計與實現(xiàn)
        4.3.1 獨立接口的設計
        4.3.2 APB_UVC的設計
        4.3.3 SPI_UVC的設計
        4.3.4 SPI控制器功能覆蓋組的設計
        4.3.5 虛擬測試序列的設計及管理
    4.4 功能驗證的實施與結(jié)果分析
        4.4.1 寄存器測試
        4.4.2 中斷測試
        4.4.3 功能測試
        4.4.4 結(jié)果分析
    4.5 本章小結(jié)
第五章 UVM驗證平臺可重用性分析與應用
    5.1 I~2C控制器驗證方案
        5.1.1 I~2C控制器功能介紹
        5.1.2 I~2C控制器功能測試點分析
    5.2 驗證平臺的重用
        5.2.1 I~2C_UVC的設計
        5.2.2 驗證平臺重用性分析
    5.3 I~2C控制器功能驗證及結(jié)果分析
        5.3.1 寄存器測試
        5.3.2 基本功能測試
        5.3.3 驗證結(jié)果分析
    5.4 本章小結(jié)
第六章 結(jié)論
    6.1 工作總結(jié)
    6.2 不足與展望
致謝
參考文獻
攻碩期間取得的研究成果


【參考文獻】：
期刊論文
[1]2017年中國集成電路產(chǎn)業(yè)現(xiàn)狀分析[J]. 魏少軍.  集成電路應用. 2017(04)
[2]基于UVM驗證方法學的縱向可重用研究[J]. 熊濤,蔣見花.  微電子學與計算機. 2016(04)
[3]基于UVM的可重用SoC功能驗證環(huán)境[J]. 呂毓達,謝雪松,張小玲.  半導體技術. 2015(03)
[4]基于SystemVerilog可重用測試平臺的實現(xiàn)[J]. 王鵬,劉萬和,劉銳,田毅.  電子技術應用. 2015(02)
[5]采用UVM方法學實現(xiàn)驗證的可重用與自動化[J]. 徐金甫,李森森.  微電子學與計算機. 2014(11)
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[7]一種基于UVM面向RISCCPU的可重用功能驗證平臺[J]. 謝崢,王騰,雍珊珊,陳旭,蘇吉婷,王新安.  北京大學學報(自然科學版). 2014(02)
[8]SoC驗證方法學研究與應用[J]. 吳軍,華更新,劉鴻瑾.  空間控制技術與應用. 2012(05)
[9]基于UVM驗證方法學的AES模塊級驗證[J]. 田勁,王小力.  微電子學與計算機. 2012(08)
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碩士論文
[1]UVM驗證方法學在SSD主控SoC芯片驗證中的應用[D]. 桂瑋楠.東南大學 2015
[2]基于UVM架構的EHCI驗證環(huán)境研究與開發(fā)[D]. 程海燕.電子科技大學 2014
[3]I2C和DMA軟核IP的軟件驗證平臺設計[D]. 鄭文剛.西安電子科技大學 2010
[4]SoC驗證方法研究及I2C通信模塊驗證的實現(xiàn)[D]. 賽斌.天津大學 2009



本文編號：3207993