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面向5G移動通信的LTE終端芯片自動化測試方法研究設(shè)計與實現(xiàn)

發(fā)布時間:2021-05-11 22:14
  移動通信已進入5GNR(New Radio)時代,終端基帶處理芯片作為用戶體驗最核心的組成部分,成為5GNR技術(shù)研究的一個熱點和難點。5GNR系統(tǒng)面向用戶群體復(fù)雜而廣泛,致使5GNR組網(wǎng)復(fù)雜性需要兼顧,使得終端基帶處理芯片必須具備更大的規(guī)模和復(fù)雜度,這直接導(dǎo)致芯片的設(shè)計以及測試驗證工作變得更復(fù)雜和困難。僅通過人工測試,不再能夠顯著提高產(chǎn)品生產(chǎn)率和勞動效率。本論文研究內(nèi)容來源于深圳市中興微電子技術(shù)有限公司的“基于LTE方向面向5G的自動化平臺構(gòu)建研究”項目。論文針對面向5G的7520wisefoneV3多模軟基帶芯片產(chǎn)品,通過理論研究、功能分析、設(shè)計實現(xiàn)及測試驗證,完成了“面向5G移動通信的LTE終端芯片自動化測試方法研究與實現(xiàn)”的課題目標(biāo)。論文主要工作包括:1.自動化平臺的選型和自動化平臺框架設(shè)計。2.針對7520V3單模功能,協(xié)議,功耗,性能,進行了自動化測試方法的論證,采用對發(fā)起端單步控制,異步自動分析的模式,實現(xiàn)完全脫離人工執(zhí)行。3.針對7520V3不同的終端形態(tài),執(zhí)行自動化測試結(jié)果并驗證最終的數(shù)據(jù)結(jié)論。論文取得的主要研究成果如下:1.分析了 5G,Pre5G,與4GLTE測試特... 

【文章來源】:西安電子科技大學(xué)陜西省 211工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】:91 頁

【學(xué)位級別】:碩士

【文章目錄】:
摘要
ABSTRACT
符號對照表
縮略語對照表
第一章 緒論
    1.1 論文選題背景及意義
        1.1.1 論文選題的技術(shù)背景
        1.1.2 論文選題的意義
    1.2 主要研究工作以及成果
    1.3 論文主要內(nèi)容及結(jié)構(gòu)概述
    1.4 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀
        1.4.1 LTE研究現(xiàn)狀
        1.4.2 從LTE到NBIOT再到5GNR的關(guān)系
        1.4.3 LTE基帶測試研究現(xiàn)狀
    1.5 本章小結(jié)
第二章 面向LTE以及5GNR協(xié)議的基帶自動化測試技術(shù)
    2.1 面向LTE及5GNR協(xié)議測試技術(shù)
        2.1.1 LTE技術(shù)特點分析
        2.1.2 5GNR技術(shù)特點分析
        2.1.3 LTE與5GNR協(xié)議的自動化測試方法
    2.2 面向LTE及5GNR協(xié)議的測試平臺
        2.2.1 腳本執(zhí)行的自動化測試平臺
        2.2.2 測試平臺的硬件構(gòu)架
        2.2.3 測試平臺的軟件結(jié)構(gòu)
        2.2.4 自動化平臺的選擇可采取以下幾種方式
    2.3 測試對象與測試需求
        2.3.1 測試對象
        2.3.2 協(xié)議信令功能測試
        2.3.3 功耗測試
        2.3.4 性能測試
    2.4 本章小結(jié)
第三章 協(xié)議信令自動化測試目標(biāo)的實現(xiàn)
    3.1 終端芯片協(xié)議測試的環(huán)境
    3.2 終端自動化控制方案
    3.3 E-UTRAN網(wǎng)測控制方案
    3.4 離線自動分析方案
    3.5 測試結(jié)果與結(jié)果分析
    3.6 本章小結(jié)
第四章 功耗自動化測試目標(biāo)的實現(xiàn)
    4.1 終端芯片功耗測試環(huán)境搭建
    4.2 USB插拔控制方案
    4.3 電流計的控制與數(shù)據(jù)分析方案
    4.4 測試結(jié)果與結(jié)果分析
    4.5 本章小結(jié)
第五章 性能測試自動化測試目標(biāo)的實現(xiàn)
    5.1 終端芯片性能測試環(huán)境搭建
    5.2 信道衰落儀的控制與數(shù)據(jù)分析方案
    5.3 測試結(jié)果與結(jié)果分析
    5.4 本章小結(jié)
第六章 測試效率的對比分析
    6.1 自動化測試的優(yōu)化對比
    6.2 7520V3各測試結(jié)果對比
    6.3 面向量產(chǎn)的自動化測試質(zhì)量產(chǎn)出模型分析
    6.4 面向量產(chǎn)的自動化測試質(zhì)量產(chǎn)出成本模型分析
    6.5 本章小結(jié)
第七章 總結(jié)以及對后續(xù)工作的展望
參考文獻
致謝
作者簡介



本文編號:3182199

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