集成電路產(chǎn)品存在于當(dāng)今社會生活中的各方面,對其產(chǎn)品的測試貫穿產(chǎn)品設(shè)計(jì)制造的各個環(huán)節(jié)�，F(xiàn)如今業(yè)內(nèi)通常采用的測試方法為:測試向量作為產(chǎn)品中被測芯片引腳輸入、測試人員記錄被測芯片輸出值、比較理論輸出值來判斷該芯片是否達(dá)標(biāo)。由于測試向量的行數(shù)常為百兆數(shù)量級,對測試儀內(nèi)存管理有著較高要求,因此采用能夠存儲、傳遞測試向量的碼型文件作為輸入是最為合理的測試向量輸入方式。然而硬件儀器通常不能直接識別碼型文件,故需將其解析為滿足硬件儀器要求的可執(zhí)行二進(jìn)制文件,再產(chǎn)生相應(yīng)的測試波形�，F(xiàn)如今業(yè)內(nèi)常見碼型文件大都與各自的測試儀配套使用,新型集成電路測試系統(tǒng)的開發(fā)者很難將現(xiàn)有碼型文件解析軟件移植到項(xiàng)目中,使得集成電路測試系統(tǒng)的開發(fā)工作更加復(fù)雜。本文針對上述問題,研究了泰瑞達(dá)碼型文件（后稱T類碼型文件）的語法結(jié)構(gòu)、詞法結(jié)構(gòu),并且對比了T類與STIL類碼型文件的異同點(diǎn),再結(jié)合解析軟件的構(gòu)成方式,設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了適用于多種碼型文件的解析軟件設(shè)計(jì)。在設(shè)計(jì)過程中,根據(jù)軟設(shè)計(jì)高內(nèi)聚低耦合的設(shè)計(jì)原則,本論文采用分層的思想,使程序具有了較好的可讀性和擴(kuò)展性。本論文包含了以下主要內(nèi)容:1.針對碼型文件種類較多的問題,以T類碼型文件為... 

【文章來源】：電子科技大學(xué)四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：82 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

集成電路測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖

圖 2-2 集成電路測試儀結(jié)構(gòu)示意圖圖 2-2 展示了整個測試過程中測試信息如何作用于各個硬件模塊。首先，主算機(jī)在生成測試所需的測試向量后，通過 PCI 總線或者其它接口將數(shù)據(jù)下發(fā)至試板中的 CUB（Clock Utility Board）模塊，再由 CUB 模塊將不同數(shù)據(jù)分別傳測試儀不同模塊進(jìn)行處理。在下發(fā)過程中由驅(qū)動控制向通道板發(fā)送測試向量的率和發(fā)送的電壓值；其次測試機(jī)獲得測試向量后，按照相應(yīng)的時間頻率將測試量對應(yīng)的的電壓值依次傳遞至數(shù)字通道板；最后通道板將通道響應(yīng)依次下發(fā)至測芯片的對應(yīng)引腳芯片從而產(chǎn)生響應(yīng)。圖中數(shù)字通道板的結(jié)構(gòu)如圖 2-3 所示。

圖 2-2 集成電路測試儀結(jié)構(gòu)示意圖圖 2-2 展示了整個測試過程中測試信息如何作用于各個硬件模塊。首先，算機(jī)在生成測試所需的測試向量后，通過 PCI 總線或者其它接口將數(shù)據(jù)下發(fā)試板中的 CUB（Clock Utility Board）模塊，再由 CUB 模塊將不同數(shù)據(jù)分別測試儀不同模塊進(jìn)行處理。在下發(fā)過程中由驅(qū)動控制向通道板發(fā)送測試向量率和發(fā)送的電壓值；其次測試機(jī)獲得測試向量后，按照相應(yīng)的時間頻率將測量對應(yīng)的的電壓值依次傳遞至數(shù)字通道板；最后通道板將通道響應(yīng)依次下發(fā)測芯片的對應(yīng)引腳芯片從而產(chǎn)生響應(yīng)。圖中數(shù)字通道板的結(jié)構(gòu)如圖 2-3 所示

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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碩士論文
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本文編號：3118282