太赫茲輻射功率密度打孔掃描測量
發(fā)布時間:2021-03-30 06:57
搭建了太赫茲匯聚測量光路,利用太赫茲探測器直接掃描測量的方式,實現(xiàn)了100 GHz輻射源空間輻射功率密度測量;利用太赫茲探測器包裹打孔錫紙的方法,減小接收孔徑,消除探測器測量結果的卷積影響,提高了測量空間分辨率。將兩種測量方法進行比較,結果表明:直接掃描法具有較高的信噪比,但空間分辨率低;打孔掃描法具有高空間分辨率,但信噪比較差。該結論可為太赫茲功率計量標定光路系統(tǒng)的設計提供參考。
【文章來源】:實驗室研究與探索. 2020,39(04)北大核心
【文章頁數(shù)】:3 頁
【部分圖文】:
太赫茲匯聚測量光路圖
實驗將探測器固定于電控二維平移臺上,光路中探測器在距離第2個透鏡10 mm處采集光斑信息,實驗采用100 GHz太赫茲源,掃描尺寸為20 mm×20 mm,采集光斑信息測量結果是光斑功率密度分布的卷積,卷積具有平滑的作用[15],數(shù)據(jù)擬合后結果見圖2。2.3 打孔掃描法測量太赫茲輻射功率密度
電控位移平臺每次移動步長1 mm,而所使用的太赫茲探測器的接收孔徑遠大于1 mm,故其測量結果是光斑功率密度分布的卷積。卷積結果會影響太赫茲功率密度的準確測量。為提高測量的空間分辨率,在探測器接收口前端套上錫紙,在錫紙中間打上直徑為1 mm的方孔,改進前后的探測器接收端比對如圖3所示。太赫茲波照射到錫紙表面后無法穿透,故經(jīng)打孔法改進后的太赫茲探測器的接收孔徑為1 mm。采用改進后打孔法掃描得到采集的光斑信息,測得數(shù)據(jù)經(jīng)處理擬合后結果如圖4所示。圖4 打孔掃描法測量太赫茲功率密度分布圖
本文編號:3109090
【文章來源】:實驗室研究與探索. 2020,39(04)北大核心
【文章頁數(shù)】:3 頁
【部分圖文】:
太赫茲匯聚測量光路圖
實驗將探測器固定于電控二維平移臺上,光路中探測器在距離第2個透鏡10 mm處采集光斑信息,實驗采用100 GHz太赫茲源,掃描尺寸為20 mm×20 mm,采集光斑信息測量結果是光斑功率密度分布的卷積,卷積具有平滑的作用[15],數(shù)據(jù)擬合后結果見圖2。2.3 打孔掃描法測量太赫茲輻射功率密度
電控位移平臺每次移動步長1 mm,而所使用的太赫茲探測器的接收孔徑遠大于1 mm,故其測量結果是光斑功率密度分布的卷積。卷積結果會影響太赫茲功率密度的準確測量。為提高測量的空間分辨率,在探測器接收口前端套上錫紙,在錫紙中間打上直徑為1 mm的方孔,改進前后的探測器接收端比對如圖3所示。太赫茲波照射到錫紙表面后無法穿透,故經(jīng)打孔法改進后的太赫茲探測器的接收孔徑為1 mm。采用改進后打孔法掃描得到采集的光斑信息,測得數(shù)據(jù)經(jīng)處理擬合后結果如圖4所示。圖4 打孔掃描法測量太赫茲功率密度分布圖
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