數字集成電路測試系統驅動程序的設計及實現
發(fā)布時間：2021-02-13 04:00
隨著科學技術的進步,集成電路產業(yè)取得了飛速的發(fā)展。作為保證集成電路性能和質量的重要手段,集成電路測試技術得到了深入地研究。數字集成電路測試系統是對數字集成電路電氣參數、工作性能測試的重要工具。隨著集成電路集成度的提高和引腳的逐漸增多,一塊集成電路所提供的功能日益龐大,集成電路測試系統需要能提供更強大的測試功能以滿足測試需求。本文實現了數字集成電路測試系統驅動程序的設計,可有效地配合界面實現對測試機硬件系統的控制,完成對數字集成電路的相應測試。本文采用分層設計的思想,使驅動程序具有更好的擴展性和維護性。本文對數字集成電路測試系統驅動程序進行了以下研究:（1）本文分析了數字集成電路測試中直流參數測試和功能測試的測試過程,總結了驅動程序中驅動接口總體的調用流程,并針對硬件設備上測試板卡提供的存儲空間不足的情況,設計了時序集參數動態(tài)導入和歷史記錄參數動態(tài)讀取的軟件流程,以支持更多的向量集進行功能測試。根據集成電路測試原理和上述測試流程,本文總結了測試過程中所需的功能接口,并完成了驅動程序的框架設計。（2）本文將驅動程序分為了器件層、功能層和系統層。其中器件層負責提取測試板卡上基礎器件類,并提供...
【文章來源】：電子科技大學四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數】：83 頁
【學位級別】：碩士
【部分圖文】：
J750Ex-HD測試儀
圖 1-1 J750Ex-HD 測試儀萬(Advantest)公司，成立于 1954 年，其產品主要測試機等。為滿足超大規(guī)模片上系統集成電路列測試儀可通過板卡的擴展，測試通道可達到也可以根據不同測試要求選擇相應測試板卡。
再通過驅動程序批量寫入各個數字電路測試板卡的存儲器中供測試時使用。圖2-9 中可以看到，向量集中的四條向量中都使用了命名為“TSB0”的時序。但在實際的集成電路測試中，特別是面向大規(guī)模數字集成電路的測試中，測試所需的向量集會很龐大，所需的時序會很多，可能會有“TSB1”、“TSB2”等等。因此，在編譯器的設計中，向量集二進制文件的存儲格式可以有兩種設計方式。第一種方式是在編譯向量集時，用界面中定義的“TSB0”時序中測試向量周期、各引腳邊沿參數和波形格式替換每條向量中的“TSB0”名，如此每條向量中就包含了各引腳的時序信息和驅動或期望的邏輯狀態(tài)信息。將這些信息通過驅動程序寫入底層數字測試板卡的存儲器中，數字測試板卡就可以執(zhí)行每條向量來測試與數字測試板卡測試通道連接的被測器件。第二種方式是將界面中定義的“TSB0”、“TSB1”等時序中的測試向量周期和各引腳邊沿參數和波形格式存放在數字電路測試板卡的一塊存儲區(qū)域中，編譯向量集時，將每條向量中的“TSB0”等時序名替換為對應的時序參數在數字電路測試板卡內存中存儲的偏移量。通過驅動程序將向量寫入板卡的存儲器后，數字電路測試板卡在執(zhí)行每條向量時，會先根據時序的偏移量在存
【參考文獻】：
期刊論文
[1]Sinking型和Sourcing型數字信號I/O接口應用[J]. 段寶利,徐曉東. 物聯網技術. 2014(03)
[2]集成電路測試原理和向量生成方法分析[J]. 宋尚升. 現代電子技術. 2014(06)
[3]基于ZeroMQ的分布式系統[J]. 蒲鳳平,陳建政. 電子測試. 2012(07)
[4]基于Spring框架的IOC模式的設計和實現[J]. 周嵐. 合肥學院學報(自然科學版). 2011(01)
[5]利用反向控制原則和依賴注入的可復用框架設計解耦方法[J]. 張浩. 計算機應用. 2010(S2)
[6]數字集成電路測試系統測試結構及校準原理分析[J]. 賀志容,韓紅星,劉文捷. 計算機與數字工程. 2010(09)
[7]基于消息隊列的多進程數據處理系統[J]. 楊超,徐如志,楊峰. 計算機工程與設計. 2010(13)
[8]我國集成電路測試技術現狀及發(fā)展策略[J]. 俞建峰,陳翔,楊雪瑛. 中國測試. 2009(03)
[9]集成電路測試技術的新進展[J]. 時萬春. 電子測量與儀器學報. 2007(04)
[10]VLSI超大規(guī)模集成電路測試和驗證的發(fā)展趨勢[J]. 賈建革,段新安,李詠雪. 中國測試技術. 2005(06)
博士論文
[1]模擬和混合信號電路測試及故障診斷方法研究[D]. 朱彥卿.湖南大學 2008
碩士論文
[1]集成電路測試系統碼型文件解析軟件設計[D]. 張菁奕.電子科技大學 2018
[2]4GSPS任意波形發(fā)生器驅動程序設計[D]. 熊倩.電子科技大學 2017
[3]數字集成電路自動測試硬件技術研究[D]. 陳明亮.電子科技大學 2010
[4]基于PXI總線的虛擬儀器測試系統的設計及其網絡化研究[D]. 李愛民.南京理工大學 2008
[5]混合信號測試理論在生產測試中應用的研究[D]. 孔冰.天津大學 2007
[6]虛擬儀器軟件結構—VISA的設計與實現[D]. 蔣榮華.電子科技大學 2006
[7]基于PXI總線的雷達虛擬測試系統[D]. 尹應全.華中科技大學 2005
本文編號：3031936
【文章來源】：電子科技大學四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數】：83 頁
【學位級別】：碩士
【部分圖文】：
J750Ex-HD測試儀
圖 1-1 J750Ex-HD 測試儀萬(Advantest)公司，成立于 1954 年，其產品主要測試機等。為滿足超大規(guī)模片上系統集成電路列測試儀可通過板卡的擴展，測試通道可達到也可以根據不同測試要求選擇相應測試板卡。
再通過驅動程序批量寫入各個數字電路測試板卡的存儲器中供測試時使用。圖2-9 中可以看到，向量集中的四條向量中都使用了命名為“TSB0”的時序。但在實際的集成電路測試中，特別是面向大規(guī)模數字集成電路的測試中，測試所需的向量集會很龐大，所需的時序會很多，可能會有“TSB1”、“TSB2”等等。因此，在編譯器的設計中，向量集二進制文件的存儲格式可以有兩種設計方式。第一種方式是在編譯向量集時，用界面中定義的“TSB0”時序中測試向量周期、各引腳邊沿參數和波形格式替換每條向量中的“TSB0”名，如此每條向量中就包含了各引腳的時序信息和驅動或期望的邏輯狀態(tài)信息。將這些信息通過驅動程序寫入底層數字測試板卡的存儲器中，數字測試板卡就可以執(zhí)行每條向量來測試與數字測試板卡測試通道連接的被測器件。第二種方式是將界面中定義的“TSB0”、“TSB1”等時序中的測試向量周期和各引腳邊沿參數和波形格式存放在數字電路測試板卡的一塊存儲區(qū)域中，編譯向量集時，將每條向量中的“TSB0”等時序名替換為對應的時序參數在數字電路測試板卡內存中存儲的偏移量。通過驅動程序將向量寫入板卡的存儲器后，數字電路測試板卡在執(zhí)行每條向量時，會先根據時序的偏移量在存
【參考文獻】：
期刊論文
[1]Sinking型和Sourcing型數字信號I/O接口應用[J]. 段寶利,徐曉東. 物聯網技術. 2014(03)
[2]集成電路測試原理和向量生成方法分析[J]. 宋尚升. 現代電子技術. 2014(06)
[3]基于ZeroMQ的分布式系統[J]. 蒲鳳平,陳建政. 電子測試. 2012(07)
[4]基于Spring框架的IOC模式的設計和實現[J]. 周嵐. 合肥學院學報(自然科學版). 2011(01)
[5]利用反向控制原則和依賴注入的可復用框架設計解耦方法[J]. 張浩. 計算機應用. 2010(S2)
[6]數字集成電路測試系統測試結構及校準原理分析[J]. 賀志容,韓紅星,劉文捷. 計算機與數字工程. 2010(09)
[7]基于消息隊列的多進程數據處理系統[J]. 楊超,徐如志,楊峰. 計算機工程與設計. 2010(13)
[8]我國集成電路測試技術現狀及發(fā)展策略[J]. 俞建峰,陳翔,楊雪瑛. 中國測試. 2009(03)
[9]集成電路測試技術的新進展[J]. 時萬春. 電子測量與儀器學報. 2007(04)
[10]VLSI超大規(guī)模集成電路測試和驗證的發(fā)展趨勢[J]. 賈建革,段新安,李詠雪. 中國測試技術. 2005(06)
博士論文
[1]模擬和混合信號電路測試及故障診斷方法研究[D]. 朱彥卿.湖南大學 2008
碩士論文
[1]集成電路測試系統碼型文件解析軟件設計[D]. 張菁奕.電子科技大學 2018
[2]4GSPS任意波形發(fā)生器驅動程序設計[D]. 熊倩.電子科技大學 2017
[3]數字集成電路自動測試硬件技術研究[D]. 陳明亮.電子科技大學 2010
[4]基于PXI總線的虛擬儀器測試系統的設計及其網絡化研究[D]. 李愛民.南京理工大學 2008
[5]混合信號測試理論在生產測試中應用的研究[D]. 孔冰.天津大學 2007
[6]虛擬儀器軟件結構—VISA的設計與實現[D]. 蔣榮華.電子科技大學 2006
[7]基于PXI總線的雷達虛擬測試系統[D]. 尹應全.華中科技大學 2005
本文編號：3031936
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