在應(yīng)用微型化技術(shù)進(jìn)行大規(guī)模模擬集成電路設(shè)計(jì)過(guò)程中,存在多個(gè)性能指標(biāo)相互沖突的問(wèn)題,因此,提出一種精英導(dǎo)向型多目標(biāo)差分變異煙花算法（GMOFWA-DV）,利用粒子進(jìn)化信息引導(dǎo)爆炸,提高算法搜索效率,同時(shí)采用差分算法中變異、交叉綜合變異方式,增強(qiáng)粒子間信息交流以及導(dǎo)向策略的適用性.將該方法與其他3種算法進(jìn)行仿真實(shí)驗(yàn)比較,實(shí)驗(yàn)結(jié)果驗(yàn)證了所提出算法的有效性.將該方法應(yīng)用于CMOS模擬集成電路設(shè)計(jì)參數(shù)優(yōu)化的實(shí)際工程應(yīng)用中,可以降低模擬集成電路設(shè)計(jì)的開(kāi)發(fā)周期. 

【文章來(lái)源】：控制與決策. 2020,35(01)北大核心

【文章頁(yè)數(shù)】：10 頁(yè)


本文編號(hào)：3028250