針對傳統(tǒng)數(shù)字集成電路老化故障預(yù)測方法耗時(shí)較長、結(jié)果誤差較大問題,提出一種新的數(shù)字集成電路老化故障高精度預(yù)測方法。該方法對數(shù)字集成電路中存在的信號(hào)進(jìn)行濾波處理,去除噪聲信號(hào)和冗余信號(hào),分析濾波處理后數(shù)字集成電路特征,得到數(shù)字集成電路漏電流變化。在此基礎(chǔ)上,分析數(shù)字集成電路中漏電流變化、閾值電壓變化和延遲變化三者之間的關(guān)系,進(jìn)而通過啟發(fā)式算法完成數(shù)字集成電路老化程度的分類,實(shí)現(xiàn)數(shù)字集成電路老化故障的預(yù)測。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,所提方法預(yù)測效率高、準(zhǔn)確率高。 

【文章來源】：計(jì)算機(jī)仿真. 2020,37(02)北大核心

【文章頁數(shù)】：4 頁

【部分圖文】：

三種不同方法所用的預(yù)測時(shí)間

圖1 三種不同方法所用的預(yù)測時(shí)間分析圖1(a)可知,采用數(shù)字集成電路老化故障高精度預(yù)測方法進(jìn)行測試時(shí),在多次迭代中該方法預(yù)測數(shù)字集成電路老化故障所用的時(shí)間均在10s以下;分析圖2(b)可知,采用基于特征信息矩陣的數(shù)字集成電路老化故障預(yù)測方法進(jìn)行測試時(shí),在多次迭代中該方法預(yù)測數(shù)字集成電路老化故障所用的時(shí)間高達(dá)24s,接近半分鐘;分析圖2(c)可知,采用基于矩陣擾動(dòng)分析的數(shù)字集成電路老化故障預(yù)測方法進(jìn)行測試時(shí),預(yù)測所用的時(shí)間在15s內(nèi)。對比三種不同方法的測試結(jié)果可知,數(shù)字集成電路老化故障高精度預(yù)測方法所用的預(yù)測時(shí)間低于基于特征信息矩陣的數(shù)字集成電路老化故障預(yù)測方法和基于矩陣擾動(dòng)分析的數(shù)字集成電路老化故障預(yù)測方法所用的預(yù)測時(shí)間,因?yàn)閿?shù)字集成電路老化故障高精度預(yù)測方法采用高通濾波器去除了數(shù)字集成電路中存在的噪聲信號(hào)和冗余信號(hào),減少了預(yù)測所用的時(shí)間,驗(yàn)證數(shù)字集成電路老化故障高精度預(yù)測方法的預(yù)測效率較高。

【參考文獻(xiàn)】：
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