針對紅外成像制導(dǎo)裝置箱內(nèi)貯存的光學(xué)性能標(biāo)定檢測,以及其全生命周期的壽命評(píng)估和預(yù)測需求,提出了基于復(fù)眼陣列逆合成孔徑成像的陣地檢測新原理,利用每一個(gè)透鏡單元所承擔(dān)的光束孔徑共同構(gòu)成檢測系統(tǒng)的出瞳,實(shí)現(xiàn)了紅外平行光模擬檢測裝置的超薄化、貯存箱內(nèi)嵌入式設(shè)計(jì),研制了大出瞳直徑、短焦紅外制導(dǎo)裝置箱內(nèi)檢測系統(tǒng)樣機(jī),并通過中波熱像儀進(jìn)行了成像像質(zhì)驗(yàn)證,為降低導(dǎo)彈陣地關(guān)鍵光學(xué)參數(shù)檢測的技術(shù)準(zhǔn)備時(shí)間和綜合檢測成本、控制檢測風(fēng)險(xiǎn)提供了技術(shù)支持。 

【文章來源】：系統(tǒng)工程與電子技術(shù). 2020年08期 北大核心

【文章頁數(shù)】：5 頁

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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本文編號(hào)：2945467