基于雪崩光電二極管的紫外單光子計(jì)數(shù)成像系統(tǒng)設(shè)計(jì)
發(fā)布時(shí)間:2020-12-27 14:17
紫外單光子探測(cè)技術(shù)是一種新興的光電探測(cè)技術(shù),可廣泛用于國(guó)防、工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)、科學(xué)探索、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域。開(kāi)展基于SiC紫外單光子探測(cè)器的成像系統(tǒng)研究對(duì)推動(dòng)該項(xiàng)技術(shù)的廣泛應(yīng)用具有重要意義。本文基于1×8 SiC APD日盲紫外線陣探測(cè)器組件研制了一個(gè)工作波段覆蓋240nm~280nm的紫外成像系統(tǒng),同時(shí)考慮到APD的可靠性設(shè)計(jì)了相應(yīng)的像素保護(hù)電路。首先分析了地表太陽(yáng)輻射特性及其對(duì)日盲紫外探測(cè)系統(tǒng)性能的影響,同時(shí)介紹了光機(jī)掃描成像原理及APD工作原理,然后闡述了保護(hù)電路對(duì)于APD陣列的重要性,并對(duì)比分析了幾種用于高壓保護(hù)的器件與典型結(jié)構(gòu)。在紫外成像系統(tǒng)設(shè)計(jì)中,根據(jù)APD線陣規(guī)模和成像目標(biāo)特性采用串并混合掃描的方式并通過(guò)二維轉(zhuǎn)臺(tái)實(shí)現(xiàn)物體掃描,在紫外光探測(cè)模塊中的保護(hù)電路設(shè)計(jì)中,采用了一種二極管與電阻交叉組合的箝位保護(hù)電路結(jié)構(gòu),并分別使用普通二極管與齊納二極管作為鉗位結(jié)構(gòu)進(jìn)行對(duì)比研究,最后基于CSMC 0.18μm高壓工藝完成電路與版圖設(shè)計(jì);在前置光學(xué)系統(tǒng)中分別采用紫外鏡頭和濾光片進(jìn)行光學(xué)聚焦和屏蔽太陽(yáng)光背景輻射,在數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中采用基于數(shù)據(jù)采集卡和上位機(jī)的波形數(shù)字化技術(shù)實(shí)現(xiàn)對(duì)芯片數(shù)據(jù)的采集,同時(shí)通...
【文章來(lái)源】:東南大學(xué)江蘇省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校
【文章頁(yè)數(shù)】:78 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
被動(dòng)光子計(jì)數(shù)成像儀
8(a) 成像系統(tǒng)外景 圖 1-11 成像檢測(cè)極其同時(shí),華東師范大學(xué)也在進(jìn)行基于 GM-APD 的.2 給出了國(guó)內(nèi)外光子計(jì)數(shù)成像技術(shù)部分研究成果方面較為領(lǐng)先,陣列規(guī)模在逐年擴(kuò)大,此外,面涉及紫外成像技術(shù)方面的較少,尤其是基于 SiC子計(jì)數(shù)成像技術(shù)研究對(duì)于推動(dòng)國(guó)內(nèi)紫外探測(cè)技術(shù)
測(cè)基礎(chǔ)譜iolet light,UV)是指在太陽(yáng)光譜中肉眼不可見(jiàn),位于紫色nm 到 400nm 輻射的總稱(chēng)。如圖 2-1 所示,根據(jù)波長(zhǎng)的不同具體如下:UVA 為 320~400nm,UVB 為 290~320 nm,線光源是太陽(yáng)光,當(dāng)來(lái)自太陽(yáng)的紫外線輻射通過(guò)大氣時(shí),UVA 也稱(chēng)為可見(jiàn)盲(visible-blind)區(qū);同時(shí)由于臭氧層對(duì)的光幾乎不會(huì)在接近地面的大氣中出現(xiàn),這個(gè)波段通常稱(chēng),Solar blind Ultraviolet)波段范圍為 240nm-280nm,主要如果天氣沒(méi)有特殊的情況,對(duì)于日盲光學(xué)系統(tǒng)就會(huì)出現(xiàn)暗輻射,就可以在無(wú)噪聲背景下被檢測(cè)和成像。
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]高靈敏度寬禁帶半導(dǎo)體紫外探測(cè)器[J]. 陸海,陳敦軍,張榮,鄭有炓. 南京大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)). 2014(03)
[2]GaN基APD日盲紫外探測(cè)器讀出電路設(shè)計(jì)[J]. 吳海峰,翟憲振,羅向東. 電子器件. 2013(05)
[3]穩(wěn)壓二極管的非線性伏安特性研究[J]. 陳海波,胡素梅. 大學(xué)物理實(shí)驗(yàn). 2012(06)
[4]光子計(jì)數(shù)探測(cè)與成像實(shí)驗(yàn)裝置設(shè)計(jì)[J]. 屈惠明,陳錢(qián). 光電工程. 2009(11)
[5]紫外線列探測(cè)器的演示成像系統(tǒng)[J]. 黃翌敏,李向陽(yáng),龔海梅. 紅外與激光工程. 2007(06)
[6]CMOS電路中ESD保護(hù)結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)[J]. 王大睿. 中國(guó)集成電路. 2007(06)
[7]基于UV光譜技術(shù)的高壓電暈放電檢測(cè)[J]. 張海峰,龐其昌,李洪,張工力. 光子學(xué)報(bào). 2006(08)
[8]GaN基紫外探測(cè)器及其研究進(jìn)展[J]. 李向陽(yáng),許金通,湯英文,李雪,張燕,龔海梅,趙德剛,楊輝. 紅外與激光工程. 2006(03)
[9]寬禁帶半導(dǎo)體器件的發(fā)展[J]. 畢克允,李松法. 中國(guó)電子科學(xué)研究院學(xué)報(bào). 2006(01)
[10]紫外光通信及其軍事應(yīng)用[J]. 龐華偉,劉天山. 云南大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版). 2005(S2)
博士論文
[1]多光束光子計(jì)數(shù)激光成像技術(shù)研究[D]. 李召輝.華東師范大學(xué) 2017
[2]4H-SiC雪崩紫外單光子探測(cè)器的研究[D]. 周東.南京大學(xué) 2014
碩士論文
[1]遠(yuǎn)紫外光子計(jì)數(shù)成像讀出系統(tǒng)算法設(shè)計(jì)[D]. 李宇嘉.中國(guó)科學(xué)院大學(xué)(中國(guó)科學(xué)院國(guó)家空間科學(xué)中心) 2017
[2]基于LABVIEW的汽車(chē)?yán)鲃?dòng)態(tài)分析測(cè)試系統(tǒng)研制[D]. 黃浩.江蘇科技大學(xué) 2016
[3]基于4H-SiC雪崩光電二極管的日盲紫外單光子探測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)[D]. 丁健文.南京大學(xué) 2015
本文編號(hào):2941891
【文章來(lái)源】:東南大學(xué)江蘇省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校
【文章頁(yè)數(shù)】:78 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【部分圖文】:
被動(dòng)光子計(jì)數(shù)成像儀
8(a) 成像系統(tǒng)外景 圖 1-11 成像檢測(cè)極其同時(shí),華東師范大學(xué)也在進(jìn)行基于 GM-APD 的.2 給出了國(guó)內(nèi)外光子計(jì)數(shù)成像技術(shù)部分研究成果方面較為領(lǐng)先,陣列規(guī)模在逐年擴(kuò)大,此外,面涉及紫外成像技術(shù)方面的較少,尤其是基于 SiC子計(jì)數(shù)成像技術(shù)研究對(duì)于推動(dòng)國(guó)內(nèi)紫外探測(cè)技術(shù)
測(cè)基礎(chǔ)譜iolet light,UV)是指在太陽(yáng)光譜中肉眼不可見(jiàn),位于紫色nm 到 400nm 輻射的總稱(chēng)。如圖 2-1 所示,根據(jù)波長(zhǎng)的不同具體如下:UVA 為 320~400nm,UVB 為 290~320 nm,線光源是太陽(yáng)光,當(dāng)來(lái)自太陽(yáng)的紫外線輻射通過(guò)大氣時(shí),UVA 也稱(chēng)為可見(jiàn)盲(visible-blind)區(qū);同時(shí)由于臭氧層對(duì)的光幾乎不會(huì)在接近地面的大氣中出現(xiàn),這個(gè)波段通常稱(chēng),Solar blind Ultraviolet)波段范圍為 240nm-280nm,主要如果天氣沒(méi)有特殊的情況,對(duì)于日盲光學(xué)系統(tǒng)就會(huì)出現(xiàn)暗輻射,就可以在無(wú)噪聲背景下被檢測(cè)和成像。
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]高靈敏度寬禁帶半導(dǎo)體紫外探測(cè)器[J]. 陸海,陳敦軍,張榮,鄭有炓. 南京大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)). 2014(03)
[2]GaN基APD日盲紫外探測(cè)器讀出電路設(shè)計(jì)[J]. 吳海峰,翟憲振,羅向東. 電子器件. 2013(05)
[3]穩(wěn)壓二極管的非線性伏安特性研究[J]. 陳海波,胡素梅. 大學(xué)物理實(shí)驗(yàn). 2012(06)
[4]光子計(jì)數(shù)探測(cè)與成像實(shí)驗(yàn)裝置設(shè)計(jì)[J]. 屈惠明,陳錢(qián). 光電工程. 2009(11)
[5]紫外線列探測(cè)器的演示成像系統(tǒng)[J]. 黃翌敏,李向陽(yáng),龔海梅. 紅外與激光工程. 2007(06)
[6]CMOS電路中ESD保護(hù)結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)[J]. 王大睿. 中國(guó)集成電路. 2007(06)
[7]基于UV光譜技術(shù)的高壓電暈放電檢測(cè)[J]. 張海峰,龐其昌,李洪,張工力. 光子學(xué)報(bào). 2006(08)
[8]GaN基紫外探測(cè)器及其研究進(jìn)展[J]. 李向陽(yáng),許金通,湯英文,李雪,張燕,龔海梅,趙德剛,楊輝. 紅外與激光工程. 2006(03)
[9]寬禁帶半導(dǎo)體器件的發(fā)展[J]. 畢克允,李松法. 中國(guó)電子科學(xué)研究院學(xué)報(bào). 2006(01)
[10]紫外光通信及其軍事應(yīng)用[J]. 龐華偉,劉天山. 云南大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版). 2005(S2)
博士論文
[1]多光束光子計(jì)數(shù)激光成像技術(shù)研究[D]. 李召輝.華東師范大學(xué) 2017
[2]4H-SiC雪崩紫外單光子探測(cè)器的研究[D]. 周東.南京大學(xué) 2014
碩士論文
[1]遠(yuǎn)紫外光子計(jì)數(shù)成像讀出系統(tǒng)算法設(shè)計(jì)[D]. 李宇嘉.中國(guó)科學(xué)院大學(xué)(中國(guó)科學(xué)院國(guó)家空間科學(xué)中心) 2017
[2]基于LABVIEW的汽車(chē)?yán)鲃?dòng)態(tài)分析測(cè)試系統(tǒng)研制[D]. 黃浩.江蘇科技大學(xué) 2016
[3]基于4H-SiC雪崩光電二極管的日盲紫外單光子探測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)[D]. 丁健文.南京大學(xué) 2015
本文編號(hào):2941891
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