在集成電路的設(shè)計(jì)和測(cè)試過(guò)程中,黑盒模塊,未初始化的時(shí)序單元,時(shí)鐘域交叉和A/D轉(zhuǎn)換器的錯(cuò)誤行為等情況常常會(huì)導(dǎo)致電路中未知值X的出現(xiàn).電路中X值的傳播會(huì)嚴(yán)重影響故障的激活和敏化,降低測(cè)試覆蓋率.針對(duì)電路多個(gè)輸入為X值的情況,本文提出了一種的基于極端隨機(jī)樹(shù)算法的測(cè)試覆蓋率損失的預(yù)測(cè)方法.通過(guò)對(duì)電路進(jìn)行仿真分析,區(qū)域劃分,提取結(jié)構(gòu)特征等步驟提取出數(shù)據(jù)集,訓(xùn)練出高準(zhǔn)確率高穩(wěn)定性的預(yù)測(cè)模型,達(dá)到快速分析多點(diǎn)X值輸入下電路測(cè)試覆蓋率損失的目的.實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,本文模型的平均預(yù)測(cè)準(zhǔn)確率達(dá)到了94.47%,相比于同類方法增加21.71%.單個(gè)電路的預(yù)測(cè)結(jié)果最低為89.03%,最高為99.99%,表明了本文預(yù)測(cè)模型具有很好的穩(wěn)定性. 

【文章來(lái)源】：微電子學(xué)與計(jì)算機(jī). 2020年04期 北大核心

【文章頁(yè)數(shù)】：7 頁(yè)

【部分圖文】：

s27電路結(jié)構(gòu)圖

圖4顯示的是本文方法和GSVR方法在所有測(cè)試電路中單個(gè)電路的預(yù)測(cè)效果.從圖4的結(jié)果中可以看出,在所有電路中本文方法的預(yù)測(cè)準(zhǔn)確率整體起伏不大,并且準(zhǔn)確率基本都高于90%,最小值為b17s的89.03%,最大值為s35932下的99.99%.而文獻(xiàn)[11]中的GSVR方法預(yù)測(cè)結(jié)果波動(dòng)很大,甚至s38417電路的預(yù)測(cè)精度低于40%.圖4說(shuō)明了本文方法在保持較高預(yù)測(cè)精度的同時(shí),在預(yù)測(cè)不同結(jié)構(gòu)的電路上,也具有很高的穩(wěn)定性.6 結(jié)束語(yǔ)

以ISCAS’89[12]中的s27電路為例,圖1為s27電路的結(jié)構(gòu)示意圖.分別限制電路中的部分輸入端口為X值,再通過(guò)TetraMAX[13]對(duì)每種情況下的測(cè)試覆蓋率進(jìn)行測(cè)試,則結(jié)果如表1所示.從表1中可以看出對(duì)于不同的輸入端口,因?yàn)槠湓陔娐分械耐負(fù)浣Y(jié)構(gòu)不同,對(duì)電路測(cè)試覆蓋率的影響也不同.通常節(jié)點(diǎn)的扇出區(qū)域越大,對(duì)電路測(cè)試覆蓋率的影響也越大.而當(dāng)越多的輸入端口為X值時(shí),對(duì)應(yīng)的DT-Loss也越大,當(dāng)電路的所有輸入端口都為X值時(shí),電路的測(cè)試覆蓋率損失為100%.表1 s27電路輸入端口與DT-Loss% 輸入端口 G1 G2 G5 G2,G5 G1,G2,G5 All DT-Loss 24.36 10.26 51.28 74.36 76.92 100


本文編號(hào)：2932782