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利用雙色激光場下閾上電離譜鑒別H 3 2+ 兩種不同分子構型

發(fā)布時間:2020-12-16 06:39
  我們最近證明,利用紅外和深紫外雙色激光場,SF6分子的結構信息可以通過其電離譜上的相干條紋獲得[arXiv,1912.08499(2019)].在本文中,我們利用該方法考察了兩種不同幾何結構的分子離子H32+在激光場中的直接閾上電離(ATI)過程.通過與單色激光場中電離譜的比較發(fā)現(xiàn),雙色激光場的電離譜可以分辨分子的不同幾何結構.由相干條件導出的公式可以很好地解釋直接ATI動能譜和動量譜中的干涉條紋.此外,還發(fā)現(xiàn)通過改變分子核間距或改變激光強度可以改變電離譜的形狀.由此可以推斷,雙色激光場誘導的ATI譜具有鑒別分子不同構型的能力,對復雜分子的幾何結構成像具有一定的參考意義. 

【文章來源】:物理學報. 2020年07期 北大核心

【文章頁數(shù)】:8 頁


本文編號:2919710

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