發(fā)布時間：2020-09-01 09:20

　　 集成電路作為時代的高科技產(chǎn)物而日新月異,它的規(guī)模和復(fù)雜度與日俱增,直接導(dǎo)致其電路故障數(shù)目越來越多。為了確保測試時具有達(dá)標(biāo)的故障覆蓋率,測試數(shù)據(jù)量也會成倍增加,巨大的測試數(shù)據(jù)量不但要增大存儲空間,還增加了測試應(yīng)用時間。減少測試數(shù)據(jù)量、降低測試應(yīng)用時間的有效辦法便是壓縮測試數(shù)據(jù)。本文對測試數(shù)據(jù)壓縮的方法進(jìn)行研究,在變換拆分方法的基礎(chǔ)上,主要做了以下幾個方面的工作:(1)用隨機(jī)矩陣對測試集進(jìn)行拆分變換。此方法將原始測試集分解為主分量集和殘差集,主分量集由線性反饋移位寄存器產(chǎn)生的矩陣中選出的最合適部分組成,殘差集由測試儀傳入的數(shù)據(jù)經(jīng)解壓后得到。實施測試時,測試集是通過主分量集和殘差集異或得到,最終被施加到被測電路上。該方法對殘差集編碼壓縮,主分量集的產(chǎn)生需要些許硬件代價。相比直接對測試集編碼壓縮,該方法能夠顯著的增加編碼壓縮的壓縮率,并且硬件開銷也是可接受的。采用FDR編碼,實驗結(jié)果顯示,向量分解壓縮方法的平均壓縮率可以達(dá)到75.33%。(2)用多輪位翻轉(zhuǎn)提高壓縮率。此方法基本思想是在不影響測試集故障覆蓋率的條件下通過翻轉(zhuǎn)測試集中的若干確定位使得測試數(shù)據(jù)具有更高的壓縮效益。具體做法是利用方法(1)得到的主分量集代替原始測試集進(jìn)行故障模擬,主分量集會檢測出一部分故障,原測試集則只需要檢測出剩余不能檢測的故障即可。這樣可以將原測試集中大量的確定位翻轉(zhuǎn)成非確定位X得到新的測試集,接著對新的測試集用向量分解的壓縮方法進(jìn)行壓縮。理論上該方法可以對測試集做多輪翻轉(zhuǎn),但是向量分解過程中選取的主分量集在硬件存儲時會產(chǎn)生相應(yīng)的代價。當(dāng)進(jìn)行第二輪翻轉(zhuǎn)時提升的壓縮率已經(jīng)低于代價,故只進(jìn)行一輪翻轉(zhuǎn)。采用FDDR編碼,實驗結(jié)果顯示,位翻轉(zhuǎn)壓縮方法的平均壓縮率可以達(dá)到81.97%。(3)用位反轉(zhuǎn)進(jìn)一步提高壓縮率。此方法基本思想是對測試集中的若干確定位進(jìn)行反轉(zhuǎn),但是反轉(zhuǎn)的前提是不影響測試集的故障覆蓋率,反轉(zhuǎn)后的測試數(shù)據(jù)具有更高的壓縮效益。測試集往往包含許多無關(guān)位和少量確定位,且測試集的故障檢測能力會隨著無關(guān)位的填充而增強(qiáng),因此便會大量存在故障檢測冗余的情況,此時測試集能夠改變很多確定位的值且不降低測試集的故障檢測能力。為了說明這種方法的有效性,我們提出了一種優(yōu)化的位反轉(zhuǎn)算法。采用FDR編碼,實驗結(jié)果顯示,位反轉(zhuǎn)壓縮方法能使壓縮率在方法(2)的基礎(chǔ)上提高2.3%左右,達(dá)到84.13%。
【學(xué)位單位】：湖南大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位年份】：2018
【中圖分類】：TN407
【部分圖文】：

＾—反變＾—反量化＾邐解碼逡逑圖１．２變換編碼通用模型逡逑圖１．２給出了變換編碼的通用模型［４］，編碼時采用變換的手段把原始數(shù)據(jù)集映逡逑射到另一個容易“壓縮”的數(shù)據(jù)域，傳輸?shù)浇獯a端先進(jìn)行解碼，然后反變換回最初逡逑的數(shù)據(jù)域，恢復(fù)信號數(shù)據(jù)。在語音壓縮領(lǐng)域通常使用小波變換；圖像壓縮領(lǐng)域一逡逑般采用ＤＣＴ邋（離散余弦變換）、ＤＦＴ（離散傅里葉變換）、ＷＨＴ邋（Ｗａｌｓｈ－Ｈａｄａｍａｒｄ逡逑變換）、ＨｒＴ（哈爾變換）、Ｋ－Ｌ變換，其中離散余弦變換最常用且變換得到的壓縮逡逑率最高，但考慮到硬件代價，ＷＨＴ變換的綜合效果較好。逡逑文獻(xiàn)［５］提出將變換編碼應(yīng)用到測試數(shù)據(jù)壓縮領(lǐng)域。多媒體領(lǐng)域的數(shù)據(jù)壓縮通逡逑常僅保存能量較為集中的部分，對噪聲部分直接丟棄。然而在測試數(shù)據(jù)壓縮領(lǐng)域，逡逑為保證測試集原有的故障覆蓋率保持不變，通常對能量弱的部分編碼壓縮存儲。逡逑這樣就構(gòu)成了測試集變換拆分新方法［５］的核心思想。逡逑基于測試集變換拆分的新方法，不同于傳統(tǒng)的測試激勵壓縮技術(shù)。該方法將逡逑測試集拆分成主分量集和殘分量集（也叫殘差集）

成電路規(guī)模的不斷擴(kuò)大，導(dǎo)致復(fù)雜度日益增加以及集成的晶體管數(shù)目越晶體管數(shù)目的X椉釉蚴共饈允萘砍殺對齔ぃ藪蟮牟饈允萘坎壞鰣義峽占�，还提高了拆}雜τ檬奔洹＝檔筒饈雜τ檬奔浜圖跎俅媧⒖占淶撓行у義鮮遣饈允菅顧�。拆}允菅顧醢ú饈約だ顧鹺筒饈韻煊ρ顧酰菊洛義仙懿饈約だ顧醴椒�。辶x賢車牟饈約だ顧醴椒ㄖ饕殖扇啵郟叮藎哄澹ǎ保┗詒嗦氳難顧醴椒ǎǎ玻╁義閑越庋溝難顧醴椒�，（３）基釉忋播扫描惦y顧醴椒�。文献｀P擔(dān)萏岢雋吮冉閑洛義纖醴椒�，利用拆}約浠徊鴟擲刺岣弒嗦胙顧醯難顧趼省＝岷媳疚氖導(dǎo)恃繡義先藎菊率紫冉彩霾饈緣南喙鼗「拍�，染徎e饕彩鏊婊饈浴⒈嗦胙瑰義�、两种非杨欆]顧醴椒ê鴕恢植鴟植饈約男路椒āｅ義鮮韻喙馗拍鑠義喜饈栽礤義鮮淙爰だ問涑魷煊﹀義

本文編號：2809558