【摘要】：近些年電子行業(yè)飛速發(fā)展,智能終端設(shè)備已成為生活中必不可少的一部分。為適應(yīng)市場需求,集成電路制造工藝技術(shù)不斷提高,芯片上集成的晶體管數(shù)量迅速增加造成集成電路的測試工作變得越來越復雜。芯片復雜度的不斷提高會導致出現(xiàn)故障的可能性增加,從而使故障數(shù)目越來越多,針對故障檢測的測試數(shù)據(jù)也隨之增加。增大的測試數(shù)據(jù)規(guī)模不僅需要更多的存儲空間,而且還會帶來測試應(yīng)用時間和測試功耗的增加。因此,如何有效降低存儲的測試數(shù)據(jù)量成為集成電路測試領(lǐng)域研究的熱點。為減少測試數(shù)據(jù)存儲代價,縮短測試應(yīng)用時間,可以對測試數(shù)據(jù)進行壓縮。測試數(shù)據(jù)壓縮旨在減少測試數(shù)據(jù)需要存儲的二進制位數(shù)量。數(shù)據(jù)經(jīng)過壓縮后存儲在測試儀上,芯片上的解壓電路則負責將測試儀傳來的數(shù)據(jù)解壓后施加到被測電路中。本文對測試激勵壓縮方法進行研究,主要有以下兩方面的工作:(1)通過使用殘分量共享方法來研究無關(guān)位對變換拆分壓縮方法壓縮率的影響。共享方法利用原始測試集位流間存在的潛在相容性,在原測試集拆分成主分量集和殘分量集時,使一個殘分量被多個位流共同使用,從而減少殘分量集規(guī)模。對單游程編碼而言,減小測試集規(guī)模能減少編碼碼字長度,利于壓縮。實驗結(jié)果表明,使用共享方法后測試集中位流的殘分量平均共享度為1.74,但平均壓縮率僅為72.54%,較測試集使用“殘分量中l(wèi)最少”原則的變換分解減少2.87%,較使用相容預(yù)處理變換拆分方法壓縮率減少 4.4%。(2)通過有選擇地使用差分向量來研究無關(guān)位對變換拆分壓縮方法壓縮率的影響。該方法通過對測試向量有選擇地進行差分處理,減少測試集中游程數(shù)。具體做法是對測試集中的無關(guān)位按照“跟隨”策略填充,填充后對向量中的每個數(shù)據(jù)位進行差分處理得到差分向量,比較原測試向量和差分向量的游程數(shù),保留游程數(shù)較少的向量,這些向量組成一個組合測試集,對組合測試集進行編碼壓縮。實驗表明,對原測試集使用該方法后平均壓縮率為59.78%,較測試集直接編碼壓縮的壓縮率略有提高。綜合研究結(jié)果表明,利用無關(guān)位優(yōu)先考慮減少測試集規(guī)模對提高變換拆分壓縮方法的壓縮率沒有正面作用。反之,優(yōu)先考慮減少游程數(shù)比較好。
【學位授予單位】：湖南大學
【學位級別】：碩士
【學位授予年份】：2018
【分類號】：TN405
【圖文】：

度除以編碼后平均游程長度得到。當ａ＝ｌ時，原始數(shù)據(jù)平均長度等于編碼后平均游程長逡逑度，表示沒有壓縮效果；當0＞１時，原始數(shù)據(jù)平均長度大于編碼后平均游程長度，有一逡逑定的壓縮效果，并且ａ值越大，表示壓縮效果越好。從圖２．５可以看出，當ｐ的取值從０逡逑到１過程中，壓縮增益逐漸增加，�。睍r壓縮增益達到最大值。也就是當測試數(shù)據(jù)中每逡逑一位�。皶r，ＦＤＲ編碼的壓縮效果達到最好。逡逑１０！邐！邐ｉ邐ｉ邐Ｉ邐ｉ邐Ｉ邐ｉ邐ｉ邐Ｉ逡逑Ｓ邋－邐ｆ－逡逑Ｌ逡逑－邐｜－逡逑５－邐ｊ￣逡逑ａ邋５邋－邐ｉ邋－逡逑４邋－邐／邐－逡逑３－邐丨—逡逑－邋邐邐？一一一一，邐＿逡逑邐—邋—邋邋邐—￣逡逑．ｉ邐Ｉ邐｜邐＿Ｊ邐｜邐！邐｜邐｜邐｜邐！邐逡逑＂0邐０１邐０２邐Ｄ３邐０．４邐０．５邐０．６邐０．７邐３．８邐０．９邐１逡逑Ｐ逡逑圖２．５邋ＦＤＲ壓縮增益逡逑ＦＤＲ編碼是單游程編碼，只對單獨的０邋（或１）游程進行編碼。當測試數(shù)據(jù)中０游逡逑程（或１游程）１較多，且１游程（或０游程）較少時，單游程編碼壓縮效果較好。逡逑ＥＦＤＲ編碼對０游程的同時也能對１游程進行編碼，是一種典型的雙游程編碼。對逡逑于跳變數(shù)較少、０游程與１游程均勻存在的測試集使用ＥＦＤＲ編碼壓縮效果較好。不逡逑過對于帶后綴的游程，需要一位標識位來區(qū)分該游程種類（０或１游程）。表２．３給出逡逑了邋ＥＦＤＲ編碼的前三組編碼碼字。由于ＥＦＤＲ編碼可同時對兩種游程編碼

位置０的概率為（７３８３７－４０６４）邋／７３８３７＝０．９４；而本實驗方法得到的殘分量集中游程數(shù)為逡逑６２０７邋（表３．４中第７列），某一位置０的概率為（６５８１８－６２０７）邋／６５８１８＝０．９１。將兩個概逡逑率值反映在第二章中ＦＤＲ編碼壓縮增益曲線上，如圖３．５所示。緊縮位流方法中某一位逡逑為０的概率０．９４對應(yīng)圖中上面一條虛線，壓縮增益值為２．６３。本方法中某一位為０的概逡逑率０．９４對應(yīng)圖中下面一條虛線，壓縮增益值為２．０４。由圖３．５得出緊縮位流中游程帶來逡逑的壓縮增益更大。比較表３．４中測試集規(guī)模大小，與緊縮位流方法相比，本方法測試集逡逑規(guī)模減少僅１０．８６％，編碼后的平均游程游程長度減少不到一位。游程數(shù)增加了邋５２．７３％，逡逑平均游程長度的減少量不足已抵消確定位增加帶來的壓縮增益減少量，故共享殘分量方逡逑法的壓縮率低于文獻［５７］中位流緊縮的壓縮率。逡逑１０邐＇邐１邐ｊ邐＇邐逡逑｜逡逑）逡逑８邐■邐ｆ逡逑ｊ逡逑６邐－邐ｊ＇逡逑？邐ｉ逡逑ａ邐ｉ逡逑４－邐／－逡逑７＾逡逑—邋＿邋——邋—邋—邋—邋—邋—邋—…＿逡逑＾邐Ｉ邋Ｉ逡逑—邋邋邋邋邐邐邐邐邐邋＾￣￣＇ｌ＇：邐Ｉ邋ｊ逡逑ｑ邋邐ｌ邐｜邐ｊ邐ｊ邐Ｉ邋１邐逡逑０邐０．２邐０．４邐０．６邐０．８邐１逡逑Ｐ逡逑圖３．５壓縮增益比較逡逑表３．６給出不同情況下ＶＩＨＣ編碼壓縮的壓縮率。表中第２列是對原測試集直接編逡逑碼得到的壓縮率，第３列是對測試集進行哈達瑪變換時，采用殘分量“１”最少原則拆分逡逑后得到殘分量集

在游程編碼中，編碼后碼字長度相同的兩個游程在測試集中出現(xiàn)的概率相近＿，也逡逑就是碼字長度相同的兩個游程數(shù)目相當。但在實際電路的測試集中，不同游程長度的游逡逑程數(shù)分布差異很大。圖４．１為Ｍｉｎｔｅｓｔ測試集中Ｓ５３７８電路的０游程分布情況，測試集中逡逑所有無關(guān)位Ｘ被填充成０。圖中橫軸為游程長度，縱軸為各游程長度對應(yīng)的數(shù)目。圖中逡逑可以看出整個游程主要表現(xiàn)為短游程，主要分布在長度０？２０，特別是游程長度小于５逡逑的游程在整個游程數(shù)中有著較大比重。Ｍｉｎｔｅｓｔ測試集中其他幾個大電路中游程長度分逡逑布情況也是這種趨勢。逡逑１８００逡逑１６００邋＼逡逑１４００邐＼逡逑＾邋１２００邋＼逡逑５邋１０００邐＼逡逑

本文編號：2788486