【摘要】：隨著半導(dǎo)體制造工藝的發(fā)展,如今,人們已經(jīng)可以將數(shù)以億計的晶體管集成在一塊芯片上,集成電路(IC)的設(shè)計復(fù)雜度也隨之迅猛提升。用于芯片制造的資金投入也迅速攀升。在這種情況下,越來越多的公司選擇將自己設(shè)計的芯片交由代工廠進(jìn)行生產(chǎn)制造。該模式促進(jìn)了芯片設(shè)計公司和代工廠各司其職,各自做自己最擅長的事。然而,這種不對稱的生產(chǎn)模式也導(dǎo)致了很多安全及知識產(chǎn)權(quán)的問題。當(dāng)設(shè)計公司將他們的設(shè)計提交給代工廠進(jìn)行生產(chǎn)制造時,設(shè)計公司并不能夠有效控制芯片生產(chǎn)數(shù)量,因為在生產(chǎn)制造過程中,代工廠已獲得該芯片的所有制造信息。這種IC設(shè)計者與代工廠之間的不對等的關(guān)系給設(shè)計者帶來了諸多不利。為了能夠使設(shè)計者有效的控制芯片的后端生產(chǎn),研究者提出了IC計量技術(shù),這項技術(shù)能夠使得設(shè)計者通過主動或被動的措施,避免這種過量生產(chǎn)的問題。根據(jù)工作機(jī)理,現(xiàn)有的計量技術(shù)可以分為被動式IC計量技術(shù)與主動式IC計量技術(shù)兩種。被動式IC計量技術(shù)是指給每一塊生產(chǎn)出來的芯片分配一個獨(dú)特唯一的ID,并將這些ID記錄在數(shù)據(jù)庫中。如果測得一塊芯片的ID沒有在數(shù)據(jù)庫中或者兩塊芯片有一樣的ID,那么就可以認(rèn)為代工廠過量生產(chǎn)了芯片。但這種技術(shù)僅僅能檢測到過量生產(chǎn)的芯片,而過量生產(chǎn)的芯片依然能夠正常使用。并且,需要花費(fèi)的大量精力去檢測和統(tǒng)計市場上是否有過量生產(chǎn)的芯片。而主動式IC計量技術(shù)不僅給每塊芯片分配了一個獨(dú)特的ID,并且給芯片加了一把鎖。當(dāng)將設(shè)計描述交給代工廠進(jìn)行生產(chǎn)后,芯片制造出來之后是鎖住的,不能正常工作的。這些制造出來的芯片必須從設(shè)計者手中獲取相應(yīng)的獨(dú)特鑰匙,并對芯片進(jìn)行解鎖激活后才能進(jìn)行后續(xù)的測試、封裝以及流向市場。從而,即使代工廠多生產(chǎn)了芯片,這些芯片也是不能通過測試以及流向市場的,因為這些多生產(chǎn)的芯片沒有設(shè)計者提供的獨(dú)特鑰匙。因此,主動式IC計量技術(shù)能夠更好的保護(hù)設(shè)計者的知識產(chǎn)權(quán)。通過以上對比,我們知道主動式IC計量技術(shù)能夠更有效的保護(hù)設(shè)計者的知識產(chǎn)權(quán)。根據(jù)主動式IC計量技術(shù)的加鎖機(jī)理的不同,可將主動式IC計量技術(shù)分為外在式IC計量技術(shù)和內(nèi)在式計量技術(shù)兩種。然而,現(xiàn)存的主動式IC計量技術(shù)不管在開銷上還是安全性上都有一定的不足。在外在式的主動計量機(jī)制中,首先,并沒有很好的克服ID生成器的穩(wěn)定性不足的問題。因為目前物理不可克隆函數(shù)(PUF)多用于ID的生成,而PUF響應(yīng)總是隨著環(huán)境溫度以及電壓的變化發(fā)生變化,而ID又與芯片的鑰匙相關(guān)。如果芯片的ID發(fā)生變化,將導(dǎo)致原來的鑰匙失效。其次,現(xiàn)存外在式的加鎖機(jī)制多為在組合邏輯電路的非關(guān)鍵路徑上插入異或門,然而這種加鎖機(jī)制可能給電路的時序造成影響。在內(nèi)在式的主動式計量機(jī)制中,目前,主要通過擴(kuò)展原始設(shè)計中的FSM實(shí)現(xiàn)加鎖設(shè)計。然而,這種計量機(jī)制中,由于解鎖時從額外增加的狀態(tài)回到初始復(fù)位狀態(tài)的入口單一,如果,攻擊者識別出這個復(fù)位狀態(tài)并通過入侵式的攻擊方法,并旁路掉額外增加的狀態(tài),使得電路直接上電到初始復(fù)位狀態(tài),這將導(dǎo)致該保護(hù)方案失效。如何克服主動式IC計量技術(shù)的不足,這是現(xiàn)今這個課題的研究熱點(diǎn)以及難點(diǎn)。在本課題中,我提出了兩個新的主動式計量機(jī)制,不僅能幫設(shè)計公司保護(hù)他們的知識產(chǎn)權(quán),并且能有效的克服以上這些主動式IC計量技術(shù)中的缺點(diǎn)。本課題首先提出了一個新的外在的主動式IC計量機(jī)制。在該機(jī)制中包含三個部分,鎖的機(jī)制,鑰匙產(chǎn)生機(jī)制以及控制部分。在介紹加鎖機(jī)制前,我們先了解一下掃描鏈結(jié)構(gòu),我們知道,為了提高芯片的測試效率,掃描鏈結(jié)構(gòu)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于芯片設(shè)計。掃描鏈主要是通過把電路中原有的D觸發(fā)器轉(zhuǎn)變成掃描單元并將這些單元連接而形成。掃描單元有一個控制工作模式的tc端口,當(dāng)測試控制端tc=0時,掃描單元工作在測試模式,掃描鏈傳輸測試數(shù)據(jù);當(dāng)tc=1時,掃描單元工作在正常模式,其功能等同于原始設(shè)計中的D觸發(fā)器。由此可見,tc端口可以用于控制電路中時序器件的工作模式。基于此,我提出了基于對掃描單元的tc端口的加鎖實(shí)現(xiàn)機(jī)制。具體來說,在掃描單元的tc端口和系統(tǒng)的測試控制信號TC之間,可以插入一個反熔絲結(jié)構(gòu),該反熔絲受控于輸入鑰匙和正確鑰匙的比對結(jié)果。兩鑰匙一致,反熔絲結(jié)構(gòu)導(dǎo)通,掃描單元的tc信號可正常受控于系統(tǒng)的TC信號。否則,掃描單元的tc信號處于混亂狀態(tài),在正常工作時,不能作為D觸發(fā)器正常工作,整個電路工作異常。該加鎖機(jī)制在輸入鑰匙正確的情況下,通過反熔絲結(jié)構(gòu)的引入可以使電路永遠(yuǎn)處于解鎖狀態(tài),克服了基于PUF的鑰匙的可靠性不足的問題。另一方面,該鎖結(jié)構(gòu)僅僅與時序器件的工作模式有關(guān),因此,并沒有給原始設(shè)計的時序造成任何負(fù)面影響。在鑰匙機(jī)制中,PUF用于給每塊芯片產(chǎn)生獨(dú)一無二的ID�；赑UF的鑰匙,在公鑰作用下,鑰匙在芯片中通過非對稱加密算法進(jìn)行加密,加密的數(shù)據(jù)將反饋給設(shè)計者。設(shè)計者根據(jù)其所掌握的私鑰對加密數(shù)據(jù)進(jìn)行解密生成解鎖芯片的鑰匙。然后將鑰匙傳給代工廠對芯片進(jìn)行解鎖。僅當(dāng)一個正確的鑰匙輸入芯片時,芯片才能夠被解鎖并正常工作。該計量機(jī)制允許用戶多次輸入鑰匙進(jìn)行芯片解鎖。一旦芯片解鎖成功,加鎖電路將永久性失效。在控制單元中包含四個計數(shù)器。一個2bit的計數(shù)器用于判別芯片是處于正常工作模式,還是測試模式。一個Q-bit的鑰匙計數(shù)器用于記錄輸入鑰匙的長度。而輸入的鑰匙與PUF鑰匙將通過一個2輸入的異或門進(jìn)行比對。比對結(jié)果由另一個Q-bit的結(jié)果計數(shù)器記錄。并且該計數(shù)器的輸出端接一個多輸入與門,用于給后面下降沿觸發(fā)的D觸發(fā)器產(chǎn)生一個解鎖信號。如果輸入的鑰匙正確,下降沿觸發(fā)的D觸發(fā)器將產(chǎn)生一個解鎖信號使電路解鎖。該計量機(jī)制對原始設(shè)計引入的面積開銷極低,并且主要是非對稱加密算法引入的,且對芯片測試沒有影響。而且,該設(shè)計方案也能抵御眾多典型的入侵式和非入侵式攻擊。本課題還提出了一個改進(jìn)的內(nèi)在主動式IC計量技術(shù)。該方案對一個基于擴(kuò)展有限狀態(tài)機(jī)(BFSM)計量方案進(jìn)行了改進(jìn)。該方案中,原始有限狀態(tài)機(jī)引入了眾多偽初始狀態(tài)。PUF的響應(yīng)信息用于從眾多偽初始狀態(tài)中唯一確定一個上電初始狀態(tài)。FSM修改之后,這些偽初始狀如何跳轉(zhuǎn)到真實(shí)初始狀態(tài),只有芯片設(shè)計者知道。原始設(shè)計中單一的真實(shí)初始狀態(tài)是芯片正常工作的唯一入口,這為攻擊者旁路掉所有偽初始狀態(tài)而直接進(jìn)入真實(shí)初始狀態(tài)提供了可能。為了克服這個安全上的漏洞,本課題提出了一個在原有FSM中增加偽真實(shí)復(fù)位狀態(tài)的機(jī)制來迷惑攻擊者。在不知道設(shè)計細(xì)節(jié)的情況下,一個人很難識別真正的復(fù)位狀態(tài)。因此,攻擊者不能夠旁路掉額外增加的狀態(tài)以及新增的轉(zhuǎn)移而致使主動式計量機(jī)制失效。在此方案中,我們首先復(fù)現(xiàn)了原來的基于FSM的內(nèi)在式計量機(jī)制,從所增加的偽初始狀態(tài)中設(shè)計回到真實(shí)初始態(tài)的路徑使得電路能夠正常工作。為了提高攻擊者識別真實(shí)初始狀態(tài)的難度,我們添加了偽真實(shí)復(fù)位狀態(tài),并進(jìn)行規(guī)則檢查,如果符合,開始進(jìn)行綜合。這些偽真實(shí)復(fù)位狀態(tài)有真實(shí)初始狀態(tài)的部分性質(zhì),但并不是全部。即也有路徑從額外增加的偽初始狀態(tài)進(jìn)入偽真實(shí)復(fù)位狀態(tài),使得電路工作。而且,這些偽真實(shí)復(fù)位狀態(tài)擁有和真實(shí)復(fù)位狀態(tài)相同的輸出轉(zhuǎn)移。如真實(shí)復(fù)位狀態(tài)s0的輸出轉(zhuǎn)移為:輸入“01”,輸出為“1”,并實(shí)現(xiàn)s0跳轉(zhuǎn)到s1。那么,偽真實(shí)復(fù)位狀態(tài)也將會在相同的輸入條件下,輸出“1”,并跳轉(zhuǎn)到s1。而偽真實(shí)復(fù)位狀態(tài)和真實(shí)復(fù)位狀態(tài)相同的輸入轉(zhuǎn)移卻不同。通過這種方法,我們提高了設(shè)計者識別原始復(fù)位狀態(tài)的難度,并增加了攻擊者旁路額外增加偽初始狀態(tài)的難度。在此方案中,通過增加偽真實(shí)復(fù)位狀態(tài)的方法,提高了原有計量機(jī)制抗攻擊的能力,并且此方案,在原來的基礎(chǔ)上僅僅引入了一個低的開銷。
【學(xué)位授予單位】：哈爾濱工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2018
【分類號】：TN405

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