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近紅外激光輻照致硅熱應(yīng)力損傷機理研究

發(fā)布時間:2020-06-06 01:10
【摘要】:激光與材料相互作用機理的研究是激光加熱、激光表面修飾、激光打孔等激光應(yīng)用領(lǐng)域的重要基礎(chǔ)理論問題。本文采用理論、數(shù)值模擬和實驗方法研究了近紅外激光輻照下硅的熱應(yīng)力損傷。建立了激光輻照致(001)單晶硅表面滑移的模型,通過分析不同滑移系的廣義層錯能和回復(fù)力,發(fā)現(xiàn)滑移不但可以在傳統(tǒng)的{111}面上發(fā)生,還可能在{110}面上發(fā)生;進而提出這種反常的{110}面滑移是一種表面現(xiàn)象,僅發(fā)生在表面下幾個原子層內(nèi)。通過改變硅的摻雜濃度和激光參數(shù),調(diào)整了激光加熱深度,從而實驗驗證了該反;片F(xiàn)象。利用毫秒激光對硅片打孔時,發(fā)現(xiàn)孔質(zhì)量低的主要原因是材料滑移先于熔融發(fā)生,因而建立了激光加熱(001)單晶硅的三維有限元模型,數(shù)值計算了硅片發(fā)生熔融前12個滑移系的剪應(yīng)力分布和應(yīng)變分布;并結(jié)合Alexander and Haasen(AH)理論定量得到了滑移和熔融的競爭關(guān)系。發(fā)現(xiàn)激光功率密度低于lMW/ccm2,硅片先滑移再熔融;激光功率密度高于lMW/cm2,硅片直接熔融。進而提出:無滑移加工的必要條件是激光功率密度大于lMW/cm2。使用高速攝像機獲得了毫秒激光燒蝕硅片的實時過程,發(fā)現(xiàn)應(yīng)力損傷有兩個階段:第一階段發(fā)生在激光作用期間,硅片在熔融前就已經(jīng)發(fā)生了塑性變形;第二階段發(fā)生在激光輻照結(jié)束后,且又可細分為塑性變形和斷裂兩個子階段。單獨使用毫秒激光時因其功率密度低導(dǎo)致了第一階段的應(yīng)力損傷,而過量熔融液體導(dǎo)致了第二階段的應(yīng)力損傷,使用序列脈沖激光應(yīng)可避免這類問題。研究了序列脈沖激光輻照下硅的溫升和斷裂現(xiàn)象:使用高速紅外點溫儀實時記錄了中心點的溫升過程,分析了激光重復(fù)頻率和占空比對加熱過程的影響,發(fā)現(xiàn):1)相對連續(xù)激光而言,重頻激光頻率低于100Hz,硅到達熔融所需的時間變短:頻率高于1 kHz,所需時間變長;2)激光重復(fù)頻率不變、占空比越低,硅到達熔融所需時間越長。針對特定激光參數(shù)下硅片碎裂現(xiàn)象的產(chǎn)生機理進行了初步實驗研究,得到了重復(fù)頻率為1 kHz的序列脈沖激光易導(dǎo)致硅片在激光脈沖間隔內(nèi)發(fā)生斷裂的結(jié)論。本文的研究結(jié)果可加深理解激光與硅材料相互作用時熱應(yīng)力產(chǎn)生與發(fā)展過程的認識,也能為激光輻照硅過程中的溫升、熱應(yīng)力和燒蝕等進行分析和討論提供理論和實驗依據(jù),從而提高激光加工硅材料的應(yīng)用效率及加工精度。
【圖文】:

對比圖,集成電路,對比圖


邐High邋Bandwidth邋"逡逑圖1.1邋2D與3D集成電路對比圖逡逑TSV技術(shù)是高端儲存器的首選互連方法。圖1.2為三星公司全球首款采用3D邋TSV逡逑封裝技術(shù)打造的DDR4內(nèi)存條,單條容量高達64GB。該內(nèi)存采用三星先進的20邋nm和逡逑3D邋TSV邋via-middle封裝工藝,所采用的TSV技術(shù)可以使硅晶圓或芯片進行垂直互連,逡逑將多個芯片堆疊起來可提升容量和性能。采用TSV封裝技術(shù)的內(nèi)存模塊,相較于引線逡逑鍵合,速度最高提升一倍,并且能耗也降低約一半。逡逑圖1.2激光通孔技術(shù)用于制造DDR4內(nèi)存條逡逑激光可以用于硅片表面微結(jié)構(gòu)的制作陽1!昂诠琛笔潜砻婢哂袦室(guī)則排列的亞微米逡逑量級錐形結(jié)構(gòu)的硅材料,被譽為21世紀“革命性的新材料”,這種材料最大的特點就是逡逑在從紫外到可見,再到紅外的超寬光譜區(qū)域都有超高效率的吸收,表面反射幾乎為零。逡逑它可以作為完美的抗反射膜用于太陽能采集技術(shù)中。早期的黑硅是利用反應(yīng)離子刻蝕方逡逑法制作的,其對紅外光的吸收率不如后來發(fā)展的用激光制作的黑硅(見圖].3和圖].4)。逡逑而且利用激光掃描制備黑硅可以直接嵌入器件制造過程中

對比圖,激光,表面微結(jié)構(gòu),通孔


邐^邐High邋Bandwidth邋"逡逑圖1.1邋2D與3D集成電路對比圖逡逑TSV技術(shù)是高端儲存器的首選互連方法。圖1.2為三星公司全球首款采用3D邋TSV逡逑封裝技術(shù)打造的DDR4內(nèi)存條,單條容量高達64GB。該內(nèi)存采用三星先進的20邋nm和逡逑3D邋TSV邋via-middle封裝工藝,所采用的TSV技術(shù)可以使硅晶圓或芯片進行垂直互連,逡逑將多個芯片堆疊起來可提升容量和性能。采用TSV封裝技術(shù)的內(nèi)存模塊,,相較于引線逡逑鍵合,速度最高提升一倍,并且能耗也降低約一半。逡逑圖1.2激光通孔技術(shù)用于制造DDR4內(nèi)存條逡逑激光可以用于硅片表面微結(jié)構(gòu)的制作陽1!昂诠琛笔潜砻婢哂袦室(guī)則排列的亞微米逡逑量級錐形結(jié)構(gòu)的硅材料,被譽為21世紀“革命性的新材料”,這種材料最大的特點就是逡逑在從紫外到可見,再到紅外的超寬光譜區(qū)域都有超高效率的吸收,表面反射幾乎為零。逡逑它可以作為完美的抗反射膜用于太陽能采集技術(shù)中。早期的黑硅是利用反應(yīng)離子刻蝕方逡逑法制作的,其對紅外光的吸收率不如后來發(fā)展的用激光制作的黑硅(見圖].3和圖].4)。逡逑而且利用激光掃描制備黑硅可以直接嵌入器件制造過程中
【學位授予單位】:南京理工大學
【學位級別】:博士
【學位授予年份】:2018
【分類號】:TN24

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本文編號:2698903

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