基于IGBT的低頻噪聲檢測(cè)系統(tǒng)
【圖文】:
T 器件的晶圓級(jí)低頻噪聲檢測(cè)以及集 DC、C-V 和 G-D 低度檢測(cè)系統(tǒng)[30-33];2014 年,由 RafaelPuyol 等人設(shè)計(jì)的用集成電路,雖然能夠提供更高的測(cè)量精度,但由于其專(zhuān)用導(dǎo)體器件的低頻噪聲測(cè)量[34];在 2017 年 ICNF 會(huì)議上由 M薄膜晶體管低頻噪聲檢測(cè)的系統(tǒng)整體框圖如圖 1-2 所示[12件、電池組、低噪聲電壓/電流放大器 SR560/570 以及動(dòng)、示波器等商用儀器設(shè)備構(gòu)成。GDSSR560/570 動(dòng)態(tài)信號(hào)分析儀數(shù)字電壓表示波器電腦DUT圖 1-2 低頻噪聲測(cè)量系統(tǒng)框圖電源測(cè)量單元(SMU)偏置,,三軸屏蔽電纜
技術(shù)通常無(wú)法用于低頻噪聲測(cè)量,因?yàn)樵谠撓邓?1/f 噪聲[13]。因此,高容量電池通常聯(lián)電阻的方式提供電流偏置,在電池不提壓或電流源。壓或電流會(huì)隨著使用時(shí)間而下降,而下降復(fù)測(cè)量的過(guò)程中電池為待測(cè)器件所提供的組提供的電壓值只能是離散的單個(gè)電池電電阻分壓的方式,但在這種情況下,為了夠大的電流,這將使得電池放電問(wèn)題變得低的電流時(shí),會(huì)表現(xiàn)為極低噪聲、高穩(wěn)定源如圖 2-15 所示。其中的高阻值電阻 R 與;電容 C 用于濾除電阻產(chǎn)生的熱噪聲。
【學(xué)位授予單位】:長(zhǎng)春理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2019
【分類(lèi)號(hào)】:TN322.8;TB535.3
【參考文獻(xiàn)】
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本文編號(hào):2596500
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