【摘要】：隨著集成在硅膠片上的知識(shí)產(chǎn)權(quán)核(Intellectual Property Core,IP)越來(lái)越多,集成電路芯片測(cè)試所遇到的故障將會(huì)變得更復(fù)雜,測(cè)試所面臨的問(wèn)題也會(huì)急劇增加,測(cè)試亟待解決幾個(gè)方面的問(wèn)題:縮短測(cè)試時(shí)間,降低測(cè)試功耗,減少測(cè)試數(shù)據(jù)量等,現(xiàn)在測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮技術(shù)是集成測(cè)試主流研究方法。本論文介紹了系統(tǒng)芯片(System on Chip,SOC)的結(jié)構(gòu),SOC測(cè)試的原理,分類及所面臨的挑戰(zhàn),并對(duì)一些經(jīng)典的Huffman編碼方案及相容壓縮方案作了綜述,分別說(shuō)明這些方案的編碼思想,編碼實(shí)例及尋找方案的不足之處和后續(xù)改進(jìn)方案。本論文基于近似相容性分析,從測(cè)試向量的列角度對(duì)測(cè)試模式相關(guān)性大的重新排列在一起;從自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(Automatic Test Equipment,ATE)串行傳輸數(shù)據(jù)的特性來(lái)看,對(duì)相鄰測(cè)試向量進(jìn)行最大程度的近似相容壓縮,若相鄰測(cè)試向量不相容組數(shù)小于或等于k值則參照前一測(cè)試向量壓縮,反之直接存儲(chǔ);從分組測(cè)試向量間不相容組數(shù)來(lái)看,分組測(cè)試向量之間不相容組數(shù)參差不齊,處理編碼壓縮時(shí)會(huì)比較復(fù)雜且效果不是很好,這里提出尋找相容類,首先構(gòu)造帶權(quán)完全無(wú)向圖,將提取相同的不相容組數(shù)子圖,采用圖著色算法尋找相容類�；谇懊嫒齻�(gè)角度的聯(lián)想,提出了最大近似相容的分組測(cè)試向量相容壓縮方法,將測(cè)試向量重新排序,使相鄰測(cè)試向量能達(dá)到最大近似相容,且使第i+1個(gè)測(cè)試向量參照第i個(gè)測(cè)試向量能夠與第i-1個(gè)測(cè)試向量間接近似相容,這個(gè)方法的提出就是想要使測(cè)試向量間相鄰的能達(dá)到最大近似相容,不相鄰的能達(dá)到間接近似相容,使測(cè)試數(shù)據(jù)集化整體為若干組就能達(dá)到很好的壓縮效果。本論文是對(duì)ISCAS’89標(biāo)準(zhǔn)電路生成的Mintest集,在基于C語(yǔ)言平臺(tái)編程分析驗(yàn)證測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮率的,且硬件結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,面積開(kāi)銷小,方案可行。
【圖文】：

測(cè)試流程圖

關(guān)的數(shù)據(jù)進(jìn)行特殊處理就能達(dá)到壓縮效果，本章將從 Huffman 縮方案大致總結(jié)前者的優(yōu)秀編碼案例。2.1 Huffman 編碼方案 Full Huffman 編碼據(jù)流定長(zhǎng)劃分為 b 位的數(shù)據(jù)塊，計(jì)算各種數(shù)據(jù)塊出現(xiàn)的頻率，過(guò)構(gòu)造一個(gè) Huffman 樹(shù)，葉子節(jié)點(diǎn)就是每個(gè)數(shù)據(jù)塊的狀態(tài)，對(duì)定義左0右1，一直到樹(shù)根結(jié)束，對(duì)樹(shù)根一直追溯到葉子結(jié)點(diǎn)得Huffman 代碼，遍歷所有葉子節(jié)點(diǎn)就能獲得所有數(shù)據(jù)塊的 Huffma個(gè)數(shù)據(jù)塊根據(jù) Huffman 代碼進(jìn)行編碼壓縮[24]。下面是一個(gè)以 4 例，如圖 2-1，統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)塊出現(xiàn)頻率、Huffman 代碼，，如表 2-1ffman 樹(shù)，如圖 2-2。
【學(xué)位授予單位】：安慶師范大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2017
【分類號(hào)】：TN407

【參考文獻(xiàn)】

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1 Yan Ma;Bingsi Li;Guangyuan Li;Jixing Zhang;Hong Chen;;A Nonlinear Observer Approach of SOC Estimation Based on Hysteresis Model for Lithium-ion Battery[J];IEEE/CAA Journal of Automatica Sinica;2017年02期

2 鄺繼順;周穎波;蔡爍;;一種用于測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮的自適應(yīng)EFDR編碼方法[J];電子與信息學(xué)報(bào);2015年10期

3 吳瓊;黃麗;;基于邏輯運(yùn)算的折半劃分測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方法[J];系統(tǒng)仿真學(xué)報(bào);2015年06期

4 程一飛;詹文法;;一種雙游程交替編碼的測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方法[J];計(jì)算機(jī)科學(xué);2014年11期

5 歐陽(yáng)一鳴;黃貴林;梁華國(guó);謝濤;黃正峰;;利用少數(shù)相關(guān)位的SoC測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方法[J];電子測(cè)量與儀器學(xué)報(bào);2013年01期

6 歐陽(yáng)一鳴;劉軍;梁華國(guó);黃喜娥;;基于位跳變相容的多掃描鏈壓縮方法[J];電子測(cè)量與儀器學(xué)報(bào);2011年07期

7 徐三子;梁華國(guó);顧婉玉;劉杰;;基于無(wú)關(guān)位動(dòng)態(tài)賦值的冪次劃分測(cè)試壓縮方案[J];計(jì)算機(jī)研究與發(fā)展;2010年S1期

8 詹文法;梁華國(guó);時(shí)峰;黃正峰;;一種混合定變長(zhǎng)虛擬塊游程編碼的測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方案[J];電子學(xué)報(bào);2009年08期

9 詹文法;梁華國(guó);時(shí)峰;黃正峰;歐陽(yáng)一鳴;;一種共游程碼的測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方案[J];計(jì)算機(jī)研究與發(fā)展;2008年10期

10 歐陽(yáng)一鳴;肖祝紅;梁華國(guó);;數(shù)據(jù)塊前向相容標(biāo)記碼的測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方法[J];計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)與圖形學(xué)學(xué)報(bào);2007年08期

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1 蔣翠云;梁華國(guó);陶玨輝;陳田;;測(cè)試數(shù)據(jù)分塊字典統(tǒng)計(jì)編碼壓縮法[A];第五屆中國(guó)測(cè)試學(xué)術(shù)會(huì)議論文集[C];2008年

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1 黃越;數(shù)字集成電路自動(dòng)測(cè)試生成算法研究[D];江南大學(xué);2012年

2 王義;集成電路低功耗內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)的研究[D];貴州大學(xué);2009年

3 劉煜坤;數(shù)字集成電路測(cè)試方法研究[D];哈爾濱理工大學(xué);2009年

4 李杰;低功耗內(nèi)建自測(cè)試（BIST）設(shè)計(jì)技術(shù)的研究[D];東南大學(xué);2004年

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1 丁秋紅;一種低功耗確定性內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)研究與實(shí)現(xiàn)[D];大連理工大學(xué);2016年

2 吳震霖;數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)研究[D];中北大學(xué);2015年

3 陳林楓;旨在降低測(cè)試時(shí)間和測(cè)試功耗的掃描樹(shù)設(shè)計(jì)研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2013年

4 劉軍;基于相容性分析的測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方法研究[D];合肥工業(yè)大學(xué);2012年

5 肖劍鋒;基于相容類加權(quán)的擴(kuò)展相容性掃描樹(shù)構(gòu)造算法研究[D];湖南大學(xué);2008年

6 成永升;基于擴(kuò)展相容性掃描樹(shù)的低測(cè)試響應(yīng)數(shù)據(jù)量方法研究[D];湖南大學(xué);2008年

7 陶玨輝;片上系統(tǒng)SoC測(cè)試數(shù)據(jù)分組壓縮方法的研究[D];合肥工業(yè)大學(xué);2007年

8 趙瑩;數(shù)字集成電路測(cè)試生成算法研究[D];哈爾濱理工大學(xué);2005年

本文編號(hào)：2572676