【摘要】：超大規(guī)模集成電路的發(fā)展,使得芯片的集成度和功能設(shè)計(jì)復(fù)雜度日益增大,這使芯片的功能驗(yàn)證面臨極大的挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)的功能驗(yàn)證由于測(cè)試用例開發(fā)周期長(zhǎng),功能覆蓋不全面,可重用性差和驗(yàn)證效率低等諸多不足,已經(jīng)成為集成電路(IC)設(shè)計(jì)發(fā)展的瓶頸。尋求新的驗(yàn)證方法已經(jīng)迫在眉睫。Accellera組織推出的通用驗(yàn)證方法學(xué)(UVM)改進(jìn)了傳統(tǒng)功能驗(yàn)證的不足,提升了驗(yàn)證的效率,引領(lǐng)著IC驗(yàn)證的發(fā)展方向。本文以網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)包解析器為原型,采用SystemVerilog驗(yàn)證語(yǔ)言,設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了基于UVM驗(yàn)證方法學(xué)的驗(yàn)證平臺(tái),并且要求代碼覆蓋率達(dá)到95%以上,功能覆蓋率達(dá)到100%。首先,分析了三種主流的功能驗(yàn)證技術(shù):基于事務(wù)的驗(yàn)證、基于覆蓋率驅(qū)動(dòng)的驗(yàn)證和基于斷言的驗(yàn)證,它們相對(duì)于傳統(tǒng)功能驗(yàn)證有著明顯的優(yōu)勢(shì);然后分析了SystemVerilog語(yǔ)言相對(duì)于Verilog語(yǔ)言和SystemC語(yǔ)言具有支持覆蓋率、斷言、隨機(jī)驗(yàn)證、完善的異常測(cè)試和優(yōu)秀的內(nèi)存管理機(jī)制等優(yōu)點(diǎn);UVM將三種驗(yàn)證技術(shù)的優(yōu)勢(shì)和SystemVerilog語(yǔ)言的優(yōu)點(diǎn)相結(jié)合,形成了層次化的樹形結(jié)構(gòu)和穩(wěn)健的工作機(jī)制。最后利用UVM的這些特點(diǎn),對(duì)網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)包解析器的功能需求進(jìn)行分析,提出了一個(gè)適用于該解析器的功能驗(yàn)證的系統(tǒng)驗(yàn)證方案,并設(shè)計(jì)出UVM驗(yàn)證平臺(tái)的總體架構(gòu)。其次,根據(jù)平臺(tái)的總體架構(gòu),設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了UVM驗(yàn)證平臺(tái)的各個(gè)組件。重點(diǎn)對(duì)序列和參考模型這兩個(gè)核心組件的實(shí)現(xiàn)進(jìn)行了詳盡的闡述。其中針對(duì)不同測(cè)試用例情形(隨機(jī)驗(yàn)證和定向驗(yàn)證),序列分別產(chǎn)生了四類數(shù)據(jù)幀:短數(shù)據(jù)幀、長(zhǎng)數(shù)據(jù)幀、混合數(shù)據(jù)幀和錯(cuò)誤數(shù)據(jù)幀。并在參考模型中實(shí)現(xiàn)一個(gè)具有相同功能特性的參考解析器作為待測(cè)設(shè)計(jì)(DUT)的比對(duì)標(biāo)準(zhǔn)。另外,為實(shí)現(xiàn)解析器的完備的功能驗(yàn)證,在監(jiān)視器組件中結(jié)合待解析協(xié)議類型設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)多個(gè)功能覆蓋點(diǎn)來(lái)統(tǒng)計(jì)分析其功能覆蓋率。最后,結(jié)合隨機(jī)驗(yàn)證和定向驗(yàn)證這兩種測(cè)試用例情形的優(yōu)勢(shì),完成了對(duì)DUT的功能仿真驗(yàn)證,分析了UVM驗(yàn)證平臺(tái)的性能。本文解析器的代碼覆蓋率達(dá)到98.96%,功能覆蓋率達(dá)到100%,表明UVM驗(yàn)證平臺(tái)實(shí)現(xiàn)了對(duì)解析器完備的功能驗(yàn)證,解析器的解析功能也是正確可靠的。
【學(xué)位授予單位】：電子科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號(hào)】：TN402

【參考文獻(xiàn)】

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前1條

1 葉茂;基于VMM的驗(yàn)證平臺(tái)的研究與實(shí)現(xiàn)[D];華中科技大學(xué);2008年

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本文編號(hào)：2544155