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Ⅰ層厚度對限幅器熱損傷效應(yīng)的影響

發(fā)布時間:2019-08-05 10:02
【摘要】:基于器件物理模擬分析法研究PIN限幅器二極管的微波脈沖熱效應(yīng),利用Sentaurus-TCAD仿真器建立了PIN二極管二維多物理場仿真模型,研究了在5.3,7.5,9.4GHz的微波脈沖作用下,不同Ⅰ層厚度的二極管模型的峰值溫度變化。仿真結(jié)果表明:Ⅰ層厚度對PIN二極管微波脈沖熱效應(yīng)的影響分兩個階段,拐點前厚度增加,峰值溫度提高,拐點后厚度增加峰值溫度降低;一定范圍內(nèi)微波脈沖頻率的變化對"拐點"影響不明顯。
【圖文】:

Ⅰ層厚度對限幅器熱損傷效應(yīng)的影響


093002-2Fig.1CircuitofPINlimiterinsimulation圖1仿真中PIN限幅器電路圖Fig.2StructureofPINdiodeinsimulation圖2仿真中的PIN二極管二維模型(局部)1.2熱動力學(xué)輸運模型熱動力學(xué)輸運模型是在DD模型也即漂移擴散-擴散輸運模型的基礎(chǔ)上,充分考慮了晶格溫度對模型的影響,將熱傳輸方程、泊松方程及載流子連續(xù)性方程聯(lián)立求解,所以能更為準(zhǔn)確地模擬注入功率較大時器件可能發(fā)生的自熱效應(yīng)。晶格溫度上升將會影響載流子遷移率、產(chǎn)生-復(fù)合率等模型,因此加入熱動力學(xué)輸運模型有利于提高模擬的精確度。模型中因溫差產(chǎn)生了電流增益,其電流密度方程為[8-9]Jn=-qμnn("φn+Pn"T)(1)Jp=-qμpp("φp+Pp"T)(2)式中:n,p為電子和空穴濃度;q為單位電荷電量;Jn,Jp為電子和空穴的電流密度;μn,,μp為電子和空穴遷移率;φn,φp為電子和空穴的準(zhǔn)費米勢;Pn,Pp為電子和空穴的絕對熱電能;T為晶格溫度?紤]自熱導(dǎo)致器件內(nèi)部溫度擴散對熱力學(xué)模型的影響,需要計算熱傳導(dǎo)方程[8]cV

本文編號:2523068

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