【摘要】：隨著電子科技的發(fā)展,集成電路已經(jīng)是日常生活中不可或缺的東西,因此對(duì)集成電路的研究是現(xiàn)在以及未來(lái)研究的一個(gè)熱點(diǎn)問(wèn)題。集成電路的測(cè)試是混合集成電路研究中的一個(gè)重點(diǎn)環(huán)節(jié),它可以保證電路的設(shè)計(jì)達(dá)到預(yù)期指標(biāo)。本課題是低速小規(guī)模數(shù)�；旌霞呻娐窚y(cè)試板的設(shè)計(jì)。其主要內(nèi)容是以現(xiàn)有的各功能芯片為依據(jù),使用模塊化的設(shè)計(jì)思路,設(shè)計(jì)出一款可靠性較高的集成電路測(cè)試板。該測(cè)試板可以滿(mǎn)足部分低速小規(guī)�；旌霞呻娐返臏y(cè)試需求,與現(xiàn)在市場(chǎng)上常見(jiàn)的集成電路測(cè)試儀相比,具有操作簡(jiǎn)單,造價(jià)低,實(shí)用性強(qiáng)等特點(diǎn)。本論文首先介紹了混合集成電路測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展現(xiàn)狀,然后介紹了測(cè)試板設(shè)計(jì)涉及到的相關(guān)技術(shù)知識(shí)。在本文的核心部分,詳細(xì)介紹了混合集成電路測(cè)試硬件電路板的設(shè)計(jì),包括混合集成電路測(cè)試用到的數(shù)字捕獲模塊(DCI),模擬捕獲模塊(ACI),程控電源的設(shè)計(jì),高精度模擬測(cè)量?jī)x的設(shè)計(jì)等,并且分別介紹了每個(gè)模塊的邏輯設(shè)計(jì)。論文最后對(duì)一款典型數(shù)�；旌霞呻娐�(DAC)的相關(guān)參數(shù)進(jìn)行了測(cè)試,說(shuō)明了測(cè)試板電路的實(shí)際應(yīng)用。
[Abstract]:With the development of electronic science and technology, integrated circuit has become an indispensable thing in daily life. Therefore, the research on integrated circuit is a hot topic now and in the future. The test of integrated circuit is an important part in the research of hybrid integrated circuit, which can ensure the design of the circuit to meet the expected target. This paper is the design of low-speed and small-scale digital-analog hybrid integrated circuit test board. The main content of this paper is to design an integrated circuit test board with high reliability based on the existing functional chips and modular design idea. The test board can meet the testing requirements of some low-speed and small-scale hybrid integrated circuits. Compared with the common integrated circuit tester on the market at present, the test board has the characteristics of simple operation, low cost and strong practicability. This paper first introduces the development of the hybrid integrated circuit test system, and then introduces the related technical knowledge involved in the design of the test board. In the core part of this paper, the design of the test hardware circuit board of the hybrid integrated circuit is introduced in detail, including the design of the digital acquisition module (DCI), analog acquisition module (ACI), program control power supply used in the test of the hybrid integrated circuit. The design of high precision analog measuring instrument is introduced, and the logic design of each module is introduced. Finally, the related parameters of a typical digital-analog hybrid integrated circuit (DAC) are tested, and the practical application of the test board circuit is illustrated.
【學(xué)位授予單位】：蘇州大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類(lèi)號(hào)】：TN407

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本文編號(hào)：2460901