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基于黑匣子的門電路邏輯功能測試實驗設(shè)計

發(fā)布時間:2018-11-16 18:06
【摘要】:設(shè)計了基于黑匣子的門電路邏輯功能測試實驗,同時設(shè)計了黑匣子實驗?zāi)K及其保護(hù)電路等裝置。學(xué)生通過設(shè)計實驗電路、測量實驗數(shù)據(jù),利用所學(xué)邏輯知識推理得出黑匣子內(nèi)部所用74LS系列的二輸入門電路芯片類型。學(xué)生實驗的興趣和實驗效果得到提高,在數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)實驗教學(xué)中具有重要的意義。
[Abstract]:The logic function test experiment of gate circuit based on black box is designed, and the experimental module and protective circuit of black box are designed. By designing the experimental circuit, measuring the experimental data and using the logic knowledge learned, the students can infer the type of two-input gate chip of 74LS series used in the black box. The interest and effect of students' experiments are improved, which is of great significance in the basic experiment teaching of digital electronics technology.
【作者單位】: 東北大學(xué)秦皇島分校實驗教育中心;東北大學(xué)秦皇島分校控制工程學(xué)院;東北大學(xué)秦皇島分校計算機(jī)與通信工程學(xué)院;
【基金】:國家自然科學(xué)基金項目“基于視覺的智能健康監(jiān)護(hù)關(guān)鍵技術(shù)研究”(61601108)資助
【分類號】:TN791

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本文編號:2336241

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