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飛秒激光脈沖能量累積優(yōu)化對黑硅表面形貌的影響

發(fā)布時(shí)間:2018-11-08 13:43
【摘要】:在黑硅表面制備的微結(jié)構(gòu)可以使其獲得多種表面功能,這些功能在太陽能、探測器等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用.因此,黑硅微結(jié)構(gòu)的形成機(jī)理及制備條件優(yōu)化一直是研究關(guān)注的焦點(diǎn).本文的研究發(fā)現(xiàn),隨著激光輻照量(提高單脈沖能量或增加積累脈沖數(shù))的增加會(huì)遇到形貌尺寸生長的瓶頸效應(yīng):過多的能量累積對微結(jié)構(gòu)的優(yōu)化和控制并沒有進(jìn)一步的作用.理論計(jì)算結(jié)果表明,產(chǎn)生這一現(xiàn)象的原因是前序飛秒激光脈沖誘導(dǎo)產(chǎn)生的微結(jié)構(gòu)形貌對當(dāng)前激光脈沖能量的吸收產(chǎn)生了調(diào)制,使當(dāng)前激光脈沖的有效燒蝕效率降低.根據(jù)這一飛秒激光燒蝕規(guī)律,提出了一種優(yōu)化表面形貌的新方案——在輻照激光總能量一定的條件下,通過改變激光能量的分配方式(單脈沖能量與脈沖數(shù)的組合)可實(shí)現(xiàn)表面形貌的優(yōu)化.這一新的工作方式不但可以提高黑硅的制備效率,而且還有助于減少飛秒加工過程帶來的表面缺陷及損傷,并降低加工過程中的能源消耗.這一研究成果對黑硅性能的進(jìn)一步提升及其工程應(yīng)用具有重要的意義.
[Abstract]:The microstructure prepared on the surface of black silicon can obtain many kinds of surface functions, which have been widely used in solar energy, detector and other fields. Therefore, the formation mechanism and preparation conditions of black silicon microstructures have been the focus of attention. It is found that with the increase of laser irradiation (increasing the energy of single pulse or increasing the number of accumulated pulses), the bottleneck effect of morphology size growth will be encountered: too much energy accumulation has no further effect on the optimization and control of microstructure. The theoretical calculation results show that this phenomenon is caused by the modulation of the energy absorption of the current laser pulse by the microstructure induced by the front sequence femtosecond laser pulse, which reduces the effective ablation efficiency of the current laser pulse. According to this law of femtosecond laser ablation, a new scheme for optimizing the surface morphology is proposed, under the condition that the total energy of irradiated laser is constant. The surface morphology can be optimized by changing the distribution of laser energy (the combination of single pulse energy and pulse number). This new method can not only improve the preparation efficiency of black silicon, but also reduce the surface defects and damage caused by femtosecond processing, and reduce the energy consumption in the process. This research result is of great significance to the further improvement of black silicon properties and its engineering application.
【作者單位】: 長春理工大學(xué)理學(xué)院;光電信息控制和安全技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【基金】:國家自然科學(xué)基金(批準(zhǔn)號(hào):61605017) 長春市科技計(jì)劃(批準(zhǔn)號(hào):14KP007) 長春理工大學(xué)青年科學(xué)基金(批準(zhǔn)號(hào):XQNJJ-2015-01) 光電信息控制和安全技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室基金資助的課題~~
【分類號(hào)】:TN249;TN304.12

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本文編號(hào):2318663


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