一種具有浮空P型埋層的新型FS-IGBT
[Abstract]:A novel field cut-off insulated gate transistor (FS-IGBT) with floating P buried layer at the anode is proposed. Combined with the idea of over-junction and anodic short-circuit, the breakdown voltage of the new structure is increased by 13.9% compared with the traditional FS-IGBT under the same simulation conditions. When the on-state current density is 150A / cm ~ 2, the optimized voltage drop increment of the new structure is less than 9, the turn-off time is more than 60% lower than that of the traditional structure, and there is no negative resistance in the operation, so a good compromise between the on-voltage drop and the turn-off power consumption is achieved.
【作者單位】: 南京郵電大學電子科學與工程學院;東南大學國家專用集成電路系統(tǒng)工程技術研究中心;
【基金】:國家自然科學基金資助項目(61274080) 中國博士后科學基金資助項目(2013M541585)
【分類號】:TN322.8
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,本文編號:2290123
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