基于故障樹和現(xiàn)場測試的EMC故障診斷方法
[Abstract]:With the wide use of electronic equipment, the problem of EMC is becoming more and more serious, but there is no simple and effective theoretical method for EMC fault diagnosis. Therefore, an EMC fault diagnosis method based on fault tree theory and field test technology is proposed. The fault tree is used to analyze the EMC weakness of the electronic equipment, and then the fault equipment is tested on the spot according to the analysis results to locate the fault source. In this paper, the EMC fault is analyzed, and the general configuration of EMC fault tree is studied based on the general fault tree theory. At the same time, aiming at the problem that the fault probability of bottom event is difficult to determine in fault tree analysis, a fault probability analysis method based on analytic hierarchy process (AHP) is proposed. The factors of the same level are compared in pairs, the judgment matrix is established and its consistency is checked, and the weight of each index is determined according to the judgment matrix. Finally, each index is quantified, and the quantized index and weight are multiplied. The fault probability of bottom event can be calculated. The qualitative analysis includes the calculation of the minimum cut set of the fault tree, and the quantitative analysis includes the calculation of the minimum cut set importance degree and the bottom event importance degree. Examples are given for the establishment and analysis of EMC fault tree and the calculation of fault probability of bottom event. The minimum cut set of the fault tree shows the minimum fault mode of EMC and can be used to guide the test. By using field test to test each set from high to low in importance, the causes of EMC faults can be quickly located. The field test is to test the fault equipment under the working condition, which has unparalleled superiority compared with the standard test. There are two problems in field testing hardware technology: one is anti-saturation technology, the other is weak signal detection. The problem analysis and solution are given in this paper. After getting the test data, it is necessary to preprocess the test data to make the test data easy to analyze. The pretreatment includes two steps: noise elimination and environment elimination. Wavelet and singular value denoising methods are presented in this paper. Environmental culling gives a threshold-based culling method. Finally, useful information is extracted, including peak value information and envelope information. The analysis and diagnosis of EMC faults can be completed according to the extracted data features.
【學位授予單位】:西安電子科技大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2015
【分類號】:TN03
【相似文獻】
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,本文編號:2282541
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