用于天文成像探測的IRFPA性能參數(shù)測試
發(fā)布時間:2018-06-06 11:58
本文選題:天文 + IRFPA探測器。 參考:《影像科學與光化學》2017年02期
【摘要】:天體的紅外成像探測在天文學領域中有其特殊和重要的作用,高性能紅外探測器是紅外天文觀測的關鍵器件,因此紅外焦平面陣列探測器性能參數(shù)的測試評價對于紅外天文觀測具有非常重要的意義。針對天文應用的特殊性,通過分析紅外焦平面陣列(Infrared focal plane array,IRFPA)探測器的特點,給出了增益、讀出噪聲、線性和暗流等性能參數(shù)的測試原理和方法,建立了測試平臺,該測試平臺可實現(xiàn)1~14μm波長范圍的IRFPA探測器性能參數(shù)測試;完成了一臺采用國產(chǎn)3~5μm HgCdTe芯片研制的IRFPA探測器性能參數(shù)的測試。測試結果表明,該IRFPA探測器的線性度非常好,可以達到99.9%以上,但讀出噪聲和暗電流較大,與國外為天文觀測研制的高性能探測器相比尚有很大的差距。
[Abstract]:Infrared imaging detection of celestial bodies plays a special and important role in the field of astronomy. High performance infrared detectors are the key devices of infrared astronomical observation. Therefore, the measurement and evaluation of infrared focal plane array (IRFPA) detector performance parameters is of great significance for infrared astronomical observation. According to the particularity of astronomical application, the characteristics of infrared focal plane array IRFPA detector are analyzed, and the principle and method of performance parameters such as gain, readout noise, linearity and undercurrent are given, and the test platform is established. The test platform can test the performance parameters of IRFPA detector in the wavelength range of 1 ~ 14 渭 m, and complete the performance parameter test of a IRFPA detector developed by using a 3 ~ 5 渭 m HgCdTe chip made in China. The test results show that the linearity of the IRFPA detector is very good, which can reach 99.9%, but the readout noise and dark current are large, which is far from the high performance detector developed for astronomical observation abroad.
【作者單位】: 中國科學院國家天文臺;中國科學院太陽活動重點實驗室;中國科學院天文光學重點實驗室;
【基金】:國家自然科學基金(11173036,11673038,11273034) 中國科學院太陽活動重點實驗室開放課題(KLSA201616,KLSA201515)資助
【分類號】:TN215
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