發(fā)布時(shí)間：2018-05-14 00:32

  本文選題：面陣探測(cè)器 + 相連缺陷元識(shí)別��； 參考：《紅外與毫米波學(xué)報(bào)》2017年02期

【摘要】：面陣探測(cè)器相連缺陷元的光電信號(hào)與正常元基本相同,因此采用現(xiàn)有面陣測(cè)試方法無法識(shí)別相連缺陷元.針對(duì)相連缺陷元的特點(diǎn),提出了借助改變面陣探測(cè)器光電響應(yīng)的方法來實(shí)現(xiàn)相連缺陷元的識(shí)別定位.實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該方法使面陣探測(cè)器分為兩個(gè)不同透過率探測(cè)單元,多元相連缺陷元響應(yīng)電壓是相對(duì)應(yīng)的兩個(gè)不同透過率探測(cè)單元響應(yīng)電壓之和的平均值.采用MATLAB軟件對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理,分析結(jié)果清晰給出缺陷元諸如個(gè)數(shù)、形狀和位置等詳細(xì)信息.采用本方法面陣探測(cè)器相連缺陷元可以被顯著識(shí)別定位.研究結(jié)果為今后的面陣探測(cè)器評(píng)測(cè)與可靠性提高提供了參考.
[Abstract]:The photoelectric signal of the connected defect element of the array detector is basically the same as that of the normal element, so it is impossible to identify the connected defect element by using the existing plane array test methods. According to the characteristics of the connected defect element, a method of identifying and locating the connected defect element by changing the photoelectric response of the array detector is proposed. The experimental results show that the array detector can be divided into two different transmittance detection units, and the response voltage of the multicomponent connected defect elements is the average of the sum of the response voltages of the two different transmittance detection units. The MATLAB software is used to analyze and process the test data, and the detailed information such as the number, shape and position of the defect elements are clearly given in the analysis results. Using this method, the defect elements connected with the area array detectors can be clearly identified and located. The results provide a reference for the future evaluation and reliability improvement of the area array detector.
【作者單位】： 西北工業(yè)大學(xué)電子信息學(xué)院;中國空空導(dǎo)彈研究院;紅外探測(cè)器技術(shù)航空科技重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【基金】：航空創(chuàng)新基金(2011D01406)~~
【分類號(hào)】：TN215

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本文編號(hào)：1885537