硅基中長波紅外減反微結構研究
本文選題:Si基微結構 + RCWA; 參考:《紅外與激光工程》2017年04期
【摘要】:采用微加工工藝在Si襯底上制備了微柱和微錐陣列,結合光學建模分析,研究了結構參數(shù)對中長波(2.5~9μm)紅外光反射率的影響規(guī)律。使用嚴格耦合波分析方法(RCWA)計算的微結構反射光衍射效率與傅里葉紅外變換光譜儀(FTIR)測試的反射率結果吻合較好。研究結果表明,Si基微結構對TM及TE偏振光均有良好的紅外光減反特性,微錐結構具有更好的減反效果,2.5~6.5μm中紅外偏振光的反射率低至2%,同時表現(xiàn)出良好的寬譜與廣角度減反特性。
[Abstract]:Microcolumns and microtaper arrays were fabricated on Si substrates by microfabrication. The effect of structural parameters on infrared reflectance of medium long wavelength (LWV) 2.59 渭 m was studied by optical modeling and analysis. The diffraction efficiency calculated by using the strictly coupled wave analysis method (RCWA) is in good agreement with the reflectivity measured by Fourier transform Spectrometer (FTIR). The results show that Si-based microstructures have good infrared light reflectivity to TM and te polarized light, and microcone structure has better antireflection effect. The reflectivity of infrared polarized light in 2.5 渭 m is as low as 2. 5 渭 m. At the same time, it shows good wide spectrum and wide angle reflectance reduction characteristics.
【作者單位】: 中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所;西安交通大學金屬材料強度國家重點實驗室;
【基金】:中科院百人計劃(Y6BEQ11001)
【分類號】:TN21
【相似文獻】
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,本文編號:1868222
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