本文選題：SDIO + UVM�。� 參考：《微電子學》2017年03期

【摘要】：在研究SDIO接口協(xié)議的基礎(chǔ)上,采用以功能覆蓋率驅(qū)動的驗證方法和UVM驗證方法學,構(gòu)建了一個完整的SDIO IP驗證平臺。在自測試仿真實驗中,通過各種測試用例,最終實現(xiàn)了功能覆蓋率的收斂。仿真結(jié)果表明,該平臺可以用于驗證復雜的SDIO接口協(xié)議,且具有可復用性,可用于SoC系統(tǒng)的驗證,縮短驗證流程。
[Abstract]:Based on the research of SDIO interface protocol, a complete SDIO IP verification platform is constructed by using the function coverage driven verification method and the UVM verification methodology. In the self-test simulation experiment, the convergence of function coverage is realized through various test cases. The simulation results show that the platform can be used to verify the complex SDIO interface protocol, and can be reused to verify the SoC system and shorten the verification process.
【作者單位】： 合肥工業(yè)大學微電子設計研究所;
【基金】：國家自然科學基金資助項目(61204024)
【分類號】：TN40

【參考文獻】

相關(guān)期刊論文 前1條

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【共引文獻】

相關(guān)期刊論文 前10條

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【二級參考文獻】

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【相似文獻】

相關(guān)期刊論文 前2條

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本文編號：1867313