本文選題：多譜段集成 + TDI線列��； 參考：《激光與紅外》2017年06期

【摘要】：集成電路制造技術(shù)的發(fā)展使單芯片集成多譜段紅外探測器成為可能,其中長線列紅外探測器讀出電路設(shè)計(jì)遇到的挑戰(zhàn)之一就是寄生效應(yīng)。針對一款多譜段長線列用讀出電路在最小積分電容時(shí)行間輸出電平差異顯著,導(dǎo)致成像出現(xiàn)明暗條紋的現(xiàn)象進(jìn)行了測試分析,得出復(fù)雜的電路版圖寄生效應(yīng)是主要原因。通過優(yōu)化設(shè)計(jì)及流片驗(yàn)證,解決了寄生效應(yīng)導(dǎo)致的成像明暗條紋問題。
[Abstract]:With the development of IC manufacturing technology, it is possible to integrate multi-spectral infrared detectors on a single chip. One of the challenges in the design of readout circuits for long-line infrared detectors is parasitic effect. In this paper, the difference of output level between lines in a multispectral long line readout circuit with minimum integral capacitance is significant, which leads to the appearance of bright and dark stripes in imaging. The main reason is the parasitic effect of complex circuit layout. The problem of imaging light and dark fringe caused by parasitic effect is solved by optimizing design and verification of flowsheet.
【作者單位】： 華北光電技術(shù)研究所;
【分類號】：TN215

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本文編號：1833208